噪声的基本知识精选PPT.ppt
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1、关于噪声的基本知识第1页,讲稿共59张,创作于星期日1.2 噪声的基本知识噪声的基本知识 1.2.1 噪声的基本概念1.2.2 光电探测器的噪声第2页,讲稿共59张,创作于星期日1.2.1 噪声的基本概念噪声的基本概念光电系统是光信号的变换、传输及处理的系统。包含光学系统、光电探测器、电子系统等。系统在工作时,总会受到一些无用信号的干扰,例如:光电变换中光电子随机起伏的干扰;辐射光场在传输过程中受到通道的影响;背景光的干扰;放大器引入的干扰等等。这些非信号的成分统称为噪声 第3页,讲稿共59张,创作于星期日广义噪声的定义:任何叠加在信号上的不希望的随机扰动或干扰统称为噪声。这些干扰及扰动主要来
2、自两方面:(1)来自光电系统的外部 (2)来自光电系统内部第4页,讲稿共59张,创作于星期日来自光电系统外部的噪声来自光电系统外部的噪声干扰干扰通常由电、磁、机械、杂散光等因素所引起,这种干扰绝大多数是“人为的”,如:电源50H z 干扰;工业设备电火花干扰等。一般具有规律性,采取适当的措施(如屏蔽、滤波、远离噪声源等)可以将其减小或消除。对系统的可靠性、稳定性影响很大 系统的抗干扰能力对外部的理解:以被动光电系统为例第5页,讲稿共59张,创作于星期日来自光电系统内部来自光电系统内部噪声噪声系统内部的材料、器件或固有的物理过程的自然扰动。例如:导体中带电粒子无规则运动引起的热噪声,光探测过程中
3、光子计数引起的散粒噪声等。这些过程是随机过程,它既不能预知其精确大小及规律,也不能完全消除,但其遵循的统计规律、也可以通过一些措施来控制。第6页,讲稿共59张,创作于星期日系统内部的噪声:探测器探测器噪噪 声声光子噪声光子噪声电路噪声电路噪声第7页,讲稿共59张,创作于星期日噪声在实际的光电探测系统中是极其有害的。由于噪声总是与有用信号混在一起,因而影响对信号特别是微弱信号的正确探测。一个光电探测系统的极限探测能力往往由探测系统的噪声所限制。在精密测量、通讯、自动控制、核探测等领域,减小和消除噪声是十分重要的问题,是提高光电系统性能指标的关键。第8页,讲稿共59张,创作于星期日1.2.2 光电
4、探测器的噪声光电探测器的噪声探测器的噪声主要有:热噪声散粒噪声产生复合噪声(gr噪声)温度噪声 1/噪声。固定图案噪声 第9页,讲稿共59张,创作于星期日1热噪声热噪声热噪声是由耗耗散散元元件件中电荷载流子的随机热运动引起的。任何一个处于热平衡条件下的电阻,即使没有外加电压,也都有一定量的噪声,这是由于电阻体内电子的热运动所引起的。第10页,讲稿共59张,创作于星期日 AB两极间的电阻为R,在绝对温度T的平衡态下,内部的电 子处于不断的热运动中,无序 的电子运动。如果从一个想象的截面S去看,任何一瞬间有些电子 从左向右穿越S面,有些电子从右向左穿越S面。ABTSR从时间平均来看,这两种方向的电
5、子数一定相等,因为AB之间没有外电压,不会有电流通过AB。第11页,讲稿共59张,创作于星期日 但是考虑流过S面的电子数的均方偏差,则不为零。这样在AB两端就应出现一电压涨落。这一电压涨落1928年为琼斯(Johnson)的实验所证实。同时奈奎斯特推导出热噪声功率为:式中:R为电阻或阻抗元件的实部(单位为欧姆);K为玻耳兹曼常数:1.3810-23 J/K;T为导体的绝对温度(K);为测量带宽。如用噪声电流表示则为:第12页,讲稿共59张,创作于星期日例如:若一个1K的电阻,在1Hz带宽内,室温T=290K,则可求得均方根热噪声电压为4nV。为了简化符号,常记 或 第13页,讲稿共59张,创作
6、于星期日热噪声属于白噪声频谱,一般说来,高端极限额率为:015kT1034Hz=2.07T1010Hz 由上式可知,与电阻的温度T有关。在室温下(T290k),61012Hz,一般电子学系统工作频率远低于该值,故可认为热噪声为白噪声频谱。第14页,讲稿共59张,创作于星期日研究信号时,通常在频率域中(简称频域)进行研究,定义功率谱密度:S(f)的物理意义代表了单位带宽内的噪声电压的均方值,也就是单位带宽内的噪声,通常称为功率谱密度。对热噪声:S(f)=4KTR 与频率无关,为白噪声。白噪声的定义:噪声在整个频带内均匀分布的噪声第15页,讲稿共59张,创作于星期日电阻器的热噪声等效模型电阻器的热
7、噪声等效模型 :一个实际的电阻R产生的热噪声电压,可以用一个噪噪声声电电压压源源E En n和一个无噪声电阻R相串联的二端网络来表示;或者用一个噪噪声声电电流流源源I In n与一个无噪声电阻R相并联的二端网络来表示。R(有噪声有噪声)R(无噪声)(无噪声)第16页,讲稿共59张,创作于星期日例如:室温条件下R1k的电阻,在带宽1Hz内的均方根热噪声电压值约为4nV;l若工作带宽为500kHz的系统,放大器增益为103,则在放大器输出端的热噪声均方根电压约2.8mV。l在微弱信号探测中,这对于信号来讲是一个不可忽视的量。第17页,讲稿共59张,创作于星期日所有的探测器都有热噪声,如何减小热噪声
8、 的影响是光电探测系统的一个重要问题。降低探测器的工作温度T 在低温工作的探测器其热噪声将大大减小,特别是一些响应于远红外波段的探测器,为了降低热噪声,将探测器置于液氦(4K)、液氮(77K)的深冷状态。在信号不失真的条件下,压缩工作频带。第18页,讲稿共59张,创作于星期日2散粒噪声散粒噪声探测器的散粒噪声是由于探测器在光辐射作用或热激发下,光电子或光生载流子随机产生所造成的。由于随机起伏是一个一个的带电粒子或电子引起的,所以称为散粒噪声。散粒噪声存在于光电子发射器件、光生伏特器件中。从阴极发射电子过程来看,它们是完全无规则的。任一短时间内发射出来的电子决不会总是等于平均数,而是围绕这一平均
9、数有一涨落。第19页,讲稿共59张,创作于星期日从涨落的均方偏差可求出散粒噪声功率为:式中e为电子电荷,f 为探测器工作带宽。如果I是探测器的暗电流Id,则探测器在无光照时的暗电流噪声功率为:对于由光场作用的光辐射散粒噪声 也可直接写为:IP为光辐射场作用于探测器产生的平均光电流。第20页,讲稿共59张,创作于星期日散粒噪声也是白噪声,与频率无关,但是它与热噪声的根源不同,热噪声起源于热平衡条件下大量电子的无规则热运动,因而依赖于kT,而散粒噪声直接起源于电子的粒子性,因而与e直接有关。第21页,讲稿共59张,创作于星期日3产生产生复合噪声复合噪声半导体中由于载流子产生与复合的随机性而引起的平
10、均载流子浓度的起伏所产生的噪声称 为 产 生 复 合 噪 声,亦 称 gr噪 声(generationrecombination noise)。gr噪声主要存在于光电导探测器中。gr噪声与前面介绍的散粒噪声本质是相同的,都是由于载流子数随机变化所致,所以有时也把这种载流子产生和复合的随机起伏引起的噪声归并为散粒噪声,但二者的具体表达式略有不同。第22页,讲稿共59张,创作于星期日l经理论推导gr噪声的表达式为:式中:e为电子电荷,为平均电流,f 为探测器的工作带宽,为光电导探测器的内增益,是载流子平均寿命0和渡越时间d的比值。第23页,讲稿共59张,创作于星期日4温度噪声温度噪声 温度噪声主要
11、存在于热探测器中。热探测器通过热热导导G与处于恒定温度的周围环境交换热能。在无辐射存在时,尽管热探测器处于某一平均温度T0,但实际上热探测器在T0附近呈现一个小的起伏,这种温度起伏引起的热探测器输出起伏称为温度噪声。它最终限制了热探测器所探测的最小辐射能量。第24页,讲稿共59张,创作于星期日理论推导,热探测器由于温度起伏引起的温度噪声功率为:l 式中:G为探测器的热导,k为玻尔兹曼常量,T为探测器工作温度,f 为探测器的工作带宽。由上式可见,温度噪声功率与热导成正比,与探测器工作温度的平方成正比。第25页,讲稿共59张,创作于星期日5电流噪声电流噪声 1/f 噪声噪声特点是噪声功率谱密度与频
12、率成反比。电流噪声的均方值可用经验公式表示为:lk1为比例系数,与探测器制造工艺、电极接触情况、半导体表面状态及器件尺寸有关;la为与材料有关,在0.81.3之间,近似取1lb与流过器件的电流I有关,通常取值2;lf 及 f 分别为探测器工作的频率和带宽。第26页,讲稿共59张,创作于星期日电流噪声主要出现在lkHz以下的低频区。工作频率大于1kHz后,与其它噪声相比,这种噪声可忽略不计。在实际使用中采用较高的调制频率可避免或大大减小电流噪声的影响。第27页,讲稿共59张,创作于星期日6固定图案固定图案噪声噪声 FPN:Fixed Pattern Noise 存在于图像传感器中。特点:制造图像
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