SPC统计与制程能力分析15781.pptx
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1、CPK 教育訓練教育訓練1課程大綱課程大綱何謂品質何謂品質?SPCSPC概論概論:一般簡介一般簡介:製程能力分析製程能力分析:CpkCpk概論概論:2一一.何謂品質何謂品質1.1.從製造面看品質從製造面看品質2.2.從生產技術面看品質從生產技術面看品質3.3.從品管面看品質從品管面看品質4.4.從顧客面看品質從顧客面看品質5.5.從設計面看品質從設計面看品質6.6.全面品質管理全面品質管理TQMTQM(Total Quality Management)(Total Quality Management)3二二.統計製程管制統計製程管制1.1.統計統計(Statistics):(Statisti
2、cs):搜集搜集,整理整理,分析分析,解釋數據解釋數據,以小看大以小看大,並做成結論並做成結論.SPC(Statistical Process Control)SPC(Statistical Process Control)2.2.統計製程管制統計製程管制:依計劃收集製程依計劃收集製程連續連續數數據資料據資料,提供各種統計分析及管制圖之處提供各種統計分析及管制圖之處理理,計算計算,圖示與列表圖示與列表,以達成預防以達成預防,避免不避免不良的管制要求良的管制要求.3.3.統計方法統計方法:設計抽樣計畫設計抽樣計畫,由樣本推測由樣本推測母體母體.4三三.一般簡介一般簡介1.1.數據分類數據分類(D
3、ata Category)(Data Category)計量值計量值(Variables):(Variables):連續性連續性,即兩數即兩數值間有無限可能數字值間有無限可能數字.計數值計數值(Attributes):(Attributes):間斷性間斷性,即兩數即兩數值間只容許有限可能數字值間只容許有限可能數字.5.2.2.名詞介紹名詞介紹:批批(Lot):(Lot):在相同條件下生產之一群東在相同條件下生產之一群東西的集合西的集合.樣本樣本(Sample):(Sample):要研究某種特性的部要研究某種特性的部分個體之集合分個體之集合.不良率不良率P=d/n=P=d/n=不良數不良數/檢驗
4、數檢驗數良品率良品率=1-=1-不良率不良率.影響度影響度=(=(不良各數不良各數/不良總數不良總數)*100%.)*100%.PPM(Parts Per Million):PPM(Parts Per Million):每百萬個每百萬個單位的不合格數單位的不合格數.6三三.製程能力分析製程能力分析所謂製程能力是指製程的均一性所謂製程能力是指製程的均一性,而製程能力分析就是逐步設法而製程能力分析就是逐步設法減少製程中的變異使製程能符合減少製程中的變異使製程能符合要求或規格要求或規格.EX:EX:設備不穩定設備不穩定,不合理公差不合理公差,製製程變異大程變異大,零件變異大零件變異大,操作錯誤操作錯
5、誤,測定偏差測定偏差.7四四.Cpk.Cpk概論概論SU:SU:產品之規格上限產品之規格上限.SL:SL:產品之規格下限產品之規格下限.u:u:規格中心值規格中心值.X:X:平均數平均數=X/n,X/n,所有數據集合之所有數據集合之重心重心.:標準差標準差=(X-X)/n(X-X)/n 所有數所有數據點與平均數之平均距離據點與平均數之平均距離.8公差概述公差概述1.1.平衡公差平衡公差:18.0+-0.5.:18.0+-0.5.2.2.不平衡公差不平衡公差:18.0+0.50.2 or 18.0:18.0+0.50.2 or 18.0+0.3 0.5+0.3 0.53.3.單向公差單向公差:1
6、8.0+0.2+0.8 or 18.0-0.3 :18.0+0.2+0.8 or 18.0-0.3 -0.9-0.94.4.單邊公差單邊公差:30:30以上以上,15,15以下以下5.T:5.T:規格公差規格公差=規格上限規格上限-規格下限規格下限9 Capability of PrecisionCp:Cp:製程精密度製程精密度:表示製程特性的表示製程特性的一致程度一致程度,值越大越集中值越大越集中.Cp=Cp=規格公差規格公差/6/6個標準差個標準差 =T/6 =T/6(雙邊規格雙邊規格)Cp=(SU-X)/Cp=(SU-X)/3 3 (單邊規格單邊規格)Cp=(X-SL)/Cp=(X-SL
7、)/3 3 (單邊規格單邊規格)10Capability of AccuracyCa:Ca:製程準確度製程準確度:表示製程特性中心表示製程特性中心位置的偏移程度位置的偏移程度.Ca=(Ca=(平均數平均數-規格中心值規格中心值)/)/規格公規格公差差 的一半的一半*100%*100%=(X-u)/0.5T)*100%=(X-u)/0.5T)*100%11Capability of ProcessCpk:Cpk:製程能力指數製程能力指數:即同時考慮偏即同時考慮偏移及一致程度移及一致程度.Cpk=Cpk=製程精密度製程精密度(1-/(1-/製程準確度製程準確度/)/)=Cp(1-/Ca/)=Cp(
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