第1章概论学习.pptx
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1、 1958年,美国德克萨斯仪器公司制造出世界上第一块集成电路双极型晶体管集成电路,1959年正式公布。1960年,成功制造了第一块MOS集成电路。第1页/共63页1.1.2 集成电路发展的特点1.特点集成电路的发展特点主要表现在:特征尺寸越来越小;芯片尺寸越来越大;单片上的晶体管数越来越多;时钟速度越来越快;电源电压越来越低;布线层数越来越多;输入/输出(I/O)引脚越来越多。图1-1给出各个阶段集成电路产品的照片。第2页/共63页图1-1 各阶段集成电路产品的照片第3页/共63页 2.摩尔定律 1960年,美国Intel公司G.Moore预言集成电路的发展遵循指数规律,人们称之为“摩尔定律”
2、,其主要内容如下:(1)集成电路最小特征尺寸以每三年减小70%的速度下降,集成度每一年翻一番。(2)价格每两年下降一半。(3)这种规律在30年内是正确的(从1965年开始)。历史的发展证实了摩尔定律的正确性。表1-1给出集成电路特征参数的进展情况。第4页/共63页表 1-1 集成电路特征参数的进展情况 第5页/共63页 1982年出现的80286芯片中,共有13.4万只晶体管,线宽为1.5 m。而到1995年,Pentium Pro(TM)芯片就含有550万只晶体管,线宽为亚微米级0.6 m。目前商业化的芯片的线宽为0.180.35 m。图1-2(a)和(b)分别给出80286和Pentium
3、 Pro(TM)的芯片显微照片。第6页/共63页图1-2 CPU 80286及Pentium Pro(TM)芯片的显微照片 (a)80286;(b)Pentium Pro(TM)第7页/共63页 目前,集成电路将朝着两个方面发展:一是在发展微细加工技术的基础上,开发超高速度、超高集成度的集成电路芯片。二是利用先进的工艺技术、设计技术、封装技术和测试技术发展各种专用集成电路(ASIC),特别是开发更为复杂的片上系统(SOC),不断缩短产品上市时限,产品更新换代的时间越来越短。第8页/共63页1.2 专用集成电路设计要求 对专用集成电路设计的重要要求有:设计周期短;设计正确率高;硅片面积小、特征尺
4、寸小;低功耗、低电压;速度快;可测性好;价格低。第9页/共63页 1.2.1 关于“速度”用芯片的最大延迟表示芯片的工作速度,如(1-1)式所示,延迟时间Tpd 为(1-1)第10页/共63页式中:T pdo 晶体管本征延迟时间;UL 最大逻辑摆幅,即最大电源电压;Cg 扇出栅电容(负载电容);Cw 内连线电容;Ip 晶体管峰值电流。第11页/共63页 1.2.2 关于“功耗”1.有比电路与无比电路 芯片的功耗与电压、电流大小有关,与器件类型、电路型式也关系密切。就MOS集成电路而言,有NMOS电路、PMOS电路和CMOS电路之分。举一个简单的例子,如图1-3 所示,图(a)为NMOS反相器,
5、图(b)为CMOS反相器。对NMOS反相器而言,若输入为“1”,驱动管V1导通,负载管V2也导通,输出电平是两个管子分压的结果,其分压比取决于驱动管和负载管的宽长比。这种电路称之为“有比电路”。有比电路有静态电流流过。第12页/共63页 图1-3 有比电路与无比电路 (a)有比电路;(b)无比电路第13页/共63页 CMOS反相器是一个NMOS和PMOS互补的电路,当输入为“1”时,NMOS管导通,PMOS管截止,输出电压为“0”。而当输入为“0”时,NMOS管截止,PMOS管导通,输出电压为“1”,即等于 UDD。这种截止管等效电阻趋于无穷大,导通管等效电阻趋于零,一管导通必有另一管截止,输
6、出电平不分压(UOH=UDD)的电路称为“无比电路”。有比电路和无比电路的功耗有很大的不同。显然,无比电路的功耗比有比电路小。第14页/共63页 2.功耗 1)静态功耗 静态功耗指电路停留在一种状态时的功耗。有比电路的静态功耗为 PdQ=PUDD (1-2)无比电路的静态功耗为 PdQ=0 (1-3)第15页/共63页 2)动态功耗 动态功耗指电路在两种状态(“0”和“1”)转换时对电路电容充放电所消耗的功率。无比电路的动态功耗为 Pd=f(Cg+Cw+Co)U2L (1-4)式中:Co 晶体管的自电容(输出电容);f信号频率;UL 电压摆幅(UL=UDD)。第16页/共63页 3.速度功耗积
7、 引入“速度功耗积”来表示速度与功耗的关系,用信号周期表示速度,则速度功耗积为(1-5)第17页/共63页 当电源电压一定,电路电容一定时,若要速度高,则功耗必然大。反之,功耗小则速度必然低,二者的乘积为常数。这一点很好理解,如果要使速度快,电容充放电时间短,则必然要加大给电容充放电的电流,故必然导致功耗变大。第18页/共63页1.2.3 关于“价格”集成芯片的成本计算公式为 设计成本 总产量+大圆片加工成本 成品率大圆片芯片数 第19页/共63页式中:CD 设计成本及制版费;N总产量;P每个大圆片(Wafer)的制造费用;y成品率;n 每个大圆片上的芯片数(Chip/Wafer)。大圆片的芯
8、片如图1-4所示。第20页/共63页图1-4 大圆片上的芯片 第21页/共63页 由(1-6)式可知,要降低成本,必须采取以下措施:批量要大,总产量大,则第一项设计成本和制版费就可忽略,成本降低;提高成品率;提高每个大圆片上的芯片数,要尽量缩小芯片尺寸(面积)。成本与芯片面积几乎是23 次方的比例关系,因此减小尺寸是集成电路设计者和工艺技术人员追求的重要目标。第22页/共63页 为了缩小芯片面积,则要采取以下措施:优化逻辑设计;优化电路设计;优化器件设计,工艺上要不断追求精细加工,发展亚微米工艺和深亚微米工艺;优化版图设计,尽量充分利用版芯面积,合理布局/布线,减小连接长度,减小大圆片的无用区
9、。第23页/共63页1.3 集成电路的分类 1.3.1 按功能分类 按功能不同,可将集成电路分为以下几类:数字集成电路;模拟集成电路;数、模混合集成电路。随着芯片规模越来越大,电路越来越复杂,片上系统(SOC)时代即将到来,数、模混合集成电路的应用与发展备受关注。第24页/共63页 1.3.2 按结构形式和材料分类 按结构形式和材料不同,可将集成电路分为:半导体集成电路,主要指单片集成电路,这是当今的主流;膜集成电路(二次集成)。膜集成电路又分薄膜集成电路(厚度1 m)。第25页/共63页 1.3.3 按有源器件及工艺类型分类 按有源器件及工艺类型的不同,可将集成电路分为:双极集成电路。这种集
10、成电路由双极型晶体管组成,如中、小规模数字集成电路TTL、ECL和许多模拟集成电路都是双极型集成电路;第26页/共63页 MOS集成电路,有NMOS集成电路、PMOS集成电路和CMOS集成电路三种,其中CMOS集成电路由于集成度高,功耗小,随着工艺技术的进步,CMOS运行速度也很高,噪声也较小,因而已经成为当前数字和模拟(特别是数字)集成电路的主流技术;双极与MOS混合集成电路BiMOS集成电路,这种集成电路中同时含有双极型晶体管和MOS场效应管,这是为了提高某种性能或满足某种需要,利用双极型器件和MOS器件各自的特点而采取的一种工艺技术。第27页/共63页 1.3.4 按集成电路的规模分类
11、按集成电路的规模不同,集成电路可分为:小规模集成电路(SSI);中规模集成电路(MSI);大规模集成电路(LSI);超大规模集成电路(VLSI);通常,根据芯片中含有的元件数来划分集成电路的规模,表1-2 提供了一种参考标准。第28页/共63页 表1-2 划分集成电路规模的(参考)标准 第29页/共63页 甚大规模集成电路(ULSI),芯片元件数在1000万10亿个之间的集成电路属于甚大规模集成电路,如16位RAM芯片;极大规模集成电路(Super Large Scale Integration),记为SLSI,指的是芯片元件数超过10亿的集成电路。第30页/共63页1.3.5 按生产目的和实
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