工信版(中职)极限配合与技术测量学习与实训第一章电子课件.ppt
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1、YCF(中职)极限配合与技术测量学习与实训第一章电子课件第一章第一章 孔和抽的侧量孔和抽的侧量项目一实验仪器简介项目一实验仪器简介项目二实验安排项目二实验安排项目三实验报告项目三实验报告项目一实验仪器简介项目一实验仪器简介一、内径指示表一、内径指示表 内径指示表是生产中测量孔径常用的测量仪,用一般的量内径指示表是生产中测量孔径常用的测量仪,用一般的量块或标准圆环作为基准,采用相对测量法测量内径,特别适块或标准圆环作为基准,采用相对测量法测量内径,特别适合于测量深孔。内径指示表又分为内径百分表和内径千分表,合于测量深孔。内径指示表又分为内径百分表和内径千分表,并按其测量范围分为许多挡,可根据尺寸
2、大小及精度要求进并按其测量范围分为许多挡,可根据尺寸大小及精度要求进行选择。每个仪器都配有一套固定测头以备选用,仪器测量行选择。每个仪器都配有一套固定测头以备选用,仪器测量范围取决于测头的范围。范围取决于测头的范围。内径指示表由指示表和装有杠杆系统的测量装置所组成,内径指示表由指示表和装有杠杆系统的测量装置所组成,如如图图1-1所示。所示。下一页返回项目一实验仪器简介项目一实验仪器简介在测量装置下端测量套在测量装置下端测量套2的一端装有可换固定测量头的一端装有可换固定测量头1,另一,另一端装有活动测量头端装有活动测量头8,测杆,测杆3的管口上端装有指示表的管口上端装有指示表6。测量。测量时,内
3、径指示表的两测头放入被测孔径内,位于被测孔径的时,内径指示表的两测头放入被测孔径内,位于被测孔径的直径方向上,这可由定位装置来保证。定位装置借助弹簧直径方向上,这可由定位装置来保证。定位装置借助弹簧10的弹簧力始终与被测孔径接触,其接触点的连线和直径是垂的弹簧力始终与被测孔径接触,其接触点的连线和直径是垂直的。可换固定测量头直的。可换固定测量头1和活动测量头和活动测量头8分别与孔壁接触,活分别与孔壁接触,活动测量头向内移动,推动直角杠杆动测量头向内移动,推动直角杠杆7产生回转运动,通过它又产生回转运动,通过它又推动传动杆推动传动杆4移动并使弹簧移动并使弹簧5压缩,同时推动指示表压缩,同时推动指
4、示表6的指针的指针产生回转,指示出读数值来。产生回转,指示出读数值来。由于直角杠杆由于直角杠杆7的两触点与回转轴心线间是等距离的,因的两触点与回转轴心线间是等距离的,因此活动测头移动距离与传动杆的移动距离完全相同,当活动此活动测头移动距离与传动杆的移动距离完全相同,当活动测头上的尺寸变化时,就直接反映到上端的指示表上。测头上的尺寸变化时,就直接反映到上端的指示表上。上一页 下一页返回项目一实验仪器简介项目一实验仪器简介二、万能测长仪二、万能测长仪 实验用的万能测长仪有实验用的万能测长仪有JD15和和JD18两种。万能测长仪两种。万能测长仪可用来测量平行平面、球形及圆柱形零件的外形尺寸,也可可用
5、来测量平行平面、球形及圆柱形零件的外形尺寸,也可以使用仪器的附件测量平行平面的内尺寸、内孔尺寸、内外以使用仪器的附件测量平行平面的内尺寸、内孔尺寸、内外螺纹的中径以及用电子眼装置测量小孔尺寸等。仪器的工作螺纹的中径以及用电子眼装置测量小孔尺寸等。仪器的工作台可以升降、前后移动、在水平和垂直方向摆动及沿测量轴台可以升降、前后移动、在水平和垂直方向摆动及沿测量轴线方向自由浮动等,因而测量时,可利用工作台的相对运动线方向自由浮动等,因而测量时,可利用工作台的相对运动将工件调整到正确位置。将工件调整到正确位置。JD15万能测长仪结构如万能测长仪结构如图图1-2所示。所示。上一页 下一页返回项目一实验仪
6、器简介项目一实验仪器简介 万能测长仪是按照阿贝原理设计的。即被测尺寸线在毫米刻万能测长仪是按照阿贝原理设计的。即被测尺寸线在毫米刻度尺轴线的延长线上,如度尺轴线的延长线上,如图图1-3所示。刻度尺与测量轴一起所示。刻度尺与测量轴一起移动,读数采用平面螺旋线原理。移动,读数采用平面螺旋线原理。JD15万能测长仪读数万能测长仪读数:在测量过程中,镶有一条精密毫米在测量过程中,镶有一条精密毫米刻度尺如图刻度尺如图1-3中的测量轴中的测量轴2,随着被测尺寸的大小在被测工随着被测尺寸的大小在被测工件内做相应的滑动。当测量头接触被测部分后,测量轴就停件内做相应的滑动。当测量头接触被测部分后,测量轴就停止滑
7、动,测微目镜止滑动,测微目镜1的光学系统如的光学系统如图图1-4 (a)所示。在目镜所示。在目镜1中可以观察到毫米数值,但还需细分读数,以满足精密测量中可以观察到毫米数值,但还需细分读数,以满足精密测量的要求。测微目镜中有一个固定分划板的要求。测微目镜中有一个固定分划板4,它的上面刻有,它的上面刻有10个相等的刻度间距,毫米刻度尺的一个间距成像在它上面时个相等的刻度间距,毫米刻度尺的一个间距成像在它上面时恰与这恰与这10个间距总长相等,故个间距总长相等,故上一页 下一页返回项目一实验仪器简介项目一实验仪器简介其分度值为其分度值为0.1 mm。在它的附近,还有一块通过手轮。在它的附近,还有一块通
8、过手轮3可可以旋转的平面螺旋线分划板以旋转的平面螺旋线分划板2,其上刻有,其上刻有10圈平面螺旋双刻圈平面螺旋双刻线,螺旋双刻线的螺距恰与固定分划板线,螺旋双刻线的螺距恰与固定分划板4上的刻度间距相等,上的刻度间距相等,其分度值也为其分度值也为0.1 mm。在分划板。在分划板2的中央,有一圈等分为的中央,有一圈等分为100格的圆周刻度,当分划板格的圆周刻度,当分划板2转动一格圆周分度时,其分转动一格圆周分度时,其分度值为度值为1 x (0.1/100)mm=0.001 mm,这样就可达,这样就可达到细分读数的目的。到细分读数的目的。上一页 下一页返回项目一实验仪器简介项目一实验仪器简介 这种仪
9、器的读数方法如下这种仪器的读数方法如下:从目镜中观察,可同时看到三从目镜中观察,可同时看到三种刻线,如图种刻线,如图1-4(b)所示,先读毫米数所示,先读毫米数(7 mm),然后按,然后按毫米刻线在固定分划板毫米刻线在固定分划板4上读出小数点后第一位数上读出小数点后第一位数(0.4 mm),再转动手轮,再转动手轮3,使靠近零点儿毫米刻度值的一圈平面,使靠近零点儿毫米刻度值的一圈平面螺旋双刻线夹住毫米刻线,再从指示线对准的圆周刻度上读螺旋双刻线夹住毫米刻线,再从指示线对准的圆周刻度上读得微米数得微米数(0.051 m),所以从图,所以从图1-4(b)中得到读数是中得到读数是7.451 mm上一页
10、 下一页返回项目一实验仪器简介项目一实验仪器简介 JD18万能测长仪的结构如万能测长仪的结构如图图1-5所示,其实物图如所示,其实物图如图图1-6所示。读数投影屏所示。读数投影屏8上能够显示装在测量主轴上能够显示装在测量主轴6上的毫米刻线上的毫米刻线尺尺(示值范围为示值范围为0一一100 mm),0.1 mm双纹刻线双纹刻线(示值范示值范围为围为0一一1 mm)和微米分划板和微米分划板(示值范围为示值范围为0一一100 m)的的成像。测座成像。测座4内装有测量主轴内装有测量主轴6、投影读数光学系统和读数投、投影读数光学系统和读数投影屏影屏8,安装在测量主轴,安装在测量主轴6上的毫米刻线尺上的毫
11、米刻线尺(刻度间距为刻度间距为1 mm)经过经过50倍的透镜组放大后成像在影屏的下半部,在影倍的透镜组放大后成像在影屏的下半部,在影屏的下半部刻有屏的下半部刻有11对等距的双纹刻线,见对等距的双纹刻线,见图图1-7(a),刻度,刻度间距为间距为5 mm,这,这10个刻度间距的长度等于将毫米刻线尺上个刻度间距的长度等于将毫米刻线尺上的的1 mm放大后的长度放大后的长度(50 mm,因此双纹刻线每个刻度,因此双纹刻线每个刻度上一页 下一页返回项目一实验仪器简介项目一实验仪器简介间距代表毫米刻线尺的间距代表毫米刻线尺的0.1 mm。在读数投影屏。在读数投影屏8中的微米中的微米分划板固定不动,经分划板
12、固定不动,经30倍透镜组放大后成像在影屏的上半部,倍透镜组放大后成像在影屏的上半部,影屏与影屏与30倍物镜组是刚性连接在一起的,旋转测微旋钮倍物镜组是刚性连接在一起的,旋转测微旋钮9,可使它们同步移动。当影屏移动可使它们同步移动。当影屏移动5 mm(即即0.1 mm双纹刻双纹刻线的一个刻度间距线的一个刻度间距)时,时,30倍物镜组也沿着微米分划板方向倍物镜组也沿着微米分划板方向移动移动5 mm。在微米分划板。在微米分划板5 mm范围内有范围内有101条等距的刻条等距的刻线,将线,将0.1 mm分成分成100等分,故微米分划板的分度值为等分,故微米分划板的分度值为1 m 上一页 下一页返回项目一
13、实验仪器简介项目一实验仪器简介 JD18万能测长仪的读数方法如下万能测长仪的读数方法如下:如图如图1-7(b)所示,测所示,测量时在影屏的下半部显示出毫米刻线尺的某一条毫米刻线量时在影屏的下半部显示出毫米刻线尺的某一条毫米刻线(75 mm)的影像,转动测微旋钮使影屏移动,在微米分划的影像,转动测微旋钮使影屏移动,在微米分划板示值范围内,将该毫米刻线对称地夹在其左、右相邻的某板示值范围内,将该毫米刻线对称地夹在其左、右相邻的某一对双纹刻线中间,然后进行读数一对双纹刻线中间,然后进行读数(0.3 mm),则图,则图1-7 (c)所示影屏视场的读数为所示影屏视场的读数为75+0.3+0.021=75
14、.321 mm上一页 下一页返回项目一实验仪器简介项目一实验仪器简介 三、立式光学计三、立式光学计 立式光学计也称立式光学比较仪立式光学计也称立式光学比较仪(简称为立式光较简称为立式光较仪仪),是一种精度较高、结构简单的光学仪器,一般采,是一种精度较高、结构简单的光学仪器,一般采用相对法以量块为长度基准测量工件外尺寸,它是计量用相对法以量块为长度基准测量工件外尺寸,它是计量室常用的计量仪器之一。除厂用于测量精密的轴类零件室常用的计量仪器之一。除厂用于测量精密的轴类零件外,还可以检定外,还可以检定5等和等和6等量块。等量块。常见的立式光学计有两种常见的立式光学计有两种:刻线尺式立式光学计和刻线尺
15、式立式光学计和数显式立式光学计。数显式立式光学计。上一页 下一页返回项目一实验仪器简介项目一实验仪器简介 1.刻线尺式立式光学计刻线尺式立式光学计 图图1-8 (a)所示为所示为LG-1型刻线尺式立式光学计的实物图,型刻线尺式立式光学计的实物图,图图1-8 (b)所示为其外形结构简图。所示为其外形结构简图。仪器的基本技术性能指标如下仪器的基本技术性能指标如下:.型号型号LG 1 .分度值分度值0.001 mm示值范围士示值范围士0.1 mm 测量范围测量范围0一一180 mm .示值误差士示值误差士0.3 mm 刻线尺式立式光学计是利用光学杠杆放大原理进行测量的,刻线尺式立式光学计是利用光学杠
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