医学专题—放射性核素的探测..8413.ppt
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1、课堂练习 已知一Sr标准源1981年3月18日,标定其强度为0.4uCi。若用一探测效率为40%,本底计数为600cpm的探测器测该标准源,问该标准源衰变(shuibin)到2004年9月18日时,其放射性强度是多少Bq?第一页,共五十一页。在某次测量(cling)中,5min测得放射源加本底的总计数N=1080,移去放射源,10min测得本底总计数为223,求放射源的静计数率 第二页,共五十一页。第二章第二章 放射性核素的探放射性核素的探测(tnc)(tnc)第一第一节 气体气体电离探离探测器器 第二第二节 闪烁探探测器器 第三第三节 放射性探放射性探测器中使用的器中使用的电子子仪器器第四第
2、四节 放射性放射性样品的品的测量量(cling)(cling)第五第五节核核计数的数的统计学学处理理第三页,共五十一页。探探测器器测量核射量核射线是基于是基于(jy)(jy)第一章中我第一章中我们学学过的的什么原理什么原理?射射线与物与物质作用能作用能产生各种生各种(zhn)效效应。电离、激离、激发、光、光电效效应放大放大电信号信号记录器器记录电脉冲脉冲(光(光变成成电)。)。探头(tn tu)电子线路第四页,共五十一页。常用的探测器类型常用的探测器类型(lixng)测量形式测量形式气体电离探测器固体闪烁(shn shu)探测器液体闪烁探测器半导体探测器激光扫描仪r照相机,PET,SPECT放
3、射自显影放射自显影定量(强度测量)定性(能量(nngling)测量)定位(相对定量,绝定位(相对定量,绝 对定位)对定位)第五页,共五十一页。第一节 气体(qt)电离探测器 气体作为吸收射线(带电粒子)的介质。带电粒子穿过气体时,气体被电离产生电子和正离子。在外电场作用下,引起一个瞬间的电离电流随着外电场的增加和降低(jingd),电极上收集到的离子对数也随之变化。见下一张图。第六页,共五十一页。当带电粒子穿过当带电粒子穿过(chun u)(chun u)气体时,气体被电离产生电子和正离子,气体时,气体被电离产生电子和正离子,并做混并做混乱的热运动。乱的热运动。在在没有没有(mi yu)(mi
4、 yu)外外电场(E)(E)时,电离离产生的生的电子和正离子在子和正离子在混乱的混乱的热运运动中,又复合成气体分子。中,又复合成气体分子。在外在外电场作用作用下下,电子向正极子向正极漂移漂移,正离子向正离子向负极漂移。极漂移。当当EVEV1 1时,一些正离子和,一些正离子和电子会重子会重新新复合复合成中性分子,成中性分子,电极两端极两端收集收集到的到的离子离子对数小于数小于射射线的的初始初始电离离的离子数。的离子数。V V1 1EVEV2 2,射射线产生的生的电子和离子子和离子完全完全被收集被收集,收集到,收集到.等于等于.V V2 2EVEV3 3,电子在运子在运动过程中可程中可获得足得足够
5、的能量,的能量,产生生次次级电子子。收集的。收集的.大于大于.,“.,“气体放大气体放大”。V V3 3EVEV4 4,有限正比有限正比。V V4 4EVEV5 5 ,G-MG-M区区,气体探气体探测器工作器工作在在这个区。个区。放放电区区复合(fh)区饱和区正比区有限正比区G-M计数区放电区第七页,共五十一页。图图2-9.G-M2-9.G-M计数管结构示意图计数管结构示意图第八页,共五十一页。G-M计数器(Geiger-Muller Counters)射线(带电粒子)进入G-M 管,产生电离,气体放大,雪崩现象,假计数,淬灭。G-M 管内充有两种气体:1、惰性气体 2、卤素气体(有机蒸汽)。
6、淬灭原理(yunl):、淬灭气体比惰性气体电离电势低。、淬灭气体的正离子在与阴极作用时,打出次级电子和光子的几率很小。3、淬灭气体对光子具有较强的吸收能力。初始电离效应,在高外电场下,气体放大,导致(dozh)的电子增值过程。工作(gngzu)气体淬灭气体淬灭气体第九页,共五十一页。图图2-13.G-M2-13.G-M防护仪防护仪(polon-ekolab的产品)第十页,共五十一页。闪烁(shn shu)探测器(Scintillation Detectors)闪烁探测器的组成见右图。闪烁体的种类很多,从化学成份上看分为无机和有机两大类,而从物理形态上又分为固体、固溶体、液体和气体(qt)。理想
7、闪烁体的特征。无机和有机闪烁体的发光机制有很大的不同。大家自己看讲义。常用的无机闪烁体(常用的无机闪烁体(NaI(Tl),ZnS(Ag),NaI(Tl),ZnS(Ag),常常用的有机闪烁体(塑料闪烁体)用的有机闪烁体(塑料闪烁体)液体闪烁体(组成、特点)1、闪烁体应有较好的将吸收射线能量转变成光的能力,即有高的发光效率。2、能量响应具有线性关系,即输出脉冲与入射粒子能量之间应有线性关系。3、闪烁体闪烁的持续时间(),即发光衰减时间(shjin)要短。4、有好的化学和辐射稳定性,及小的温度效应5、易作成大晶体,高密度。透明度和光学均匀 度好。用于射线探测用于射线探测用于射线探测第十一页,共五十一
8、页。理想(lxing)闪烁体特性:闪烁体应有较好的将吸收(xshu)射线能量转变成光的能力,即有高的发光效率。能量响应具有线性关系,即输出脉冲与入射粒子能量之间应有线性关系。闪烁体闪烁的持续时间(),即发光衰减时间要短。有好的化学和辐射稳定性,及小的温度效应。易作成大晶体,高密度。透明度和光学均匀度好。第十二页,共五十一页。液体闪烁(shn shu)体由溶剂、溶质、添加剂组成闪烁液中99%以上是有机溶剂(甲苯、二氧杂环乙烷(y wn)和二甲苯等)。溶质:第一溶质(0.3-1%)对联三苯TPNO2,5-二苯基氧氮杂茂PPOONN2-苯基-5(4-二苯基)-1,3,4-氧二氮杂茂PBD第二溶质(0
9、.01-0.05%CH3CH3NONODMPOPOP1,4-双-2-(4-甲基-苯基噁唑基)-苯NONOPOPOP 1,4-双-2-(5-苯基噁唑基)-苯CH3CH3CH=CHCH=CH双-MSB对-双(邻-甲基苯乙烯基)-苯添加剂(也称第二(d r)溶剂)萘、乙醇、甲醇等1、溶解样品和溶质。2、接收样品的能量转移给第一溶质。主溶质,作用:接收溶剂传递的能量并发光。作用:接收第一溶质发射的光,发射较长波长的光。波长转移剂波长转移剂。1、改善溶剂的溶解度;2、增加光传递效率;3、分散样品。第十三页,共五十一页。死死时间(shjin)(shjin)”(D D)、“恢复恢复时间”(R R)、“分辨分
10、辨时间”()一次雪崩后,一次雪崩后,质量相量相对大的阳离子,由大的阳离子,由于迁移速度于迁移速度远小于小于电子,故仍滞留在阳子,故仍滞留在阳极极丝周周围,形成,形成(xngchng)(xngchng)阳离子鞘,阳离子鞘,抵消了一部分外抵消了一部分外电场。此。此时不能引起不能引起G-G-M M计数器的再一次雪崩,数器的再一次雪崩,这段段时间称称G-G-M M计数器的数器的“死死时间”(D D)。随着阳离子鞘不断向阴极运随着阳离子鞘不断向阴极运动,阳极阳极丝周周围的的电场逐逐渐恢复,入恢复,入射粒子形成的脉冲幅度逐射粒子形成的脉冲幅度逐渐增大,增大,从有脉冲出从有脉冲出现到脉冲幅度恢复到到脉冲幅度
11、恢复到最大最大值所需要的所需要的时间称称为“恢复恢复时间”(R R)。)。探探测器能器能记录下来的两个相下来的两个相邻脉冲脉冲的最短的最短时间间隔,称隔,称为“分辨分辨时间”()。第十四页,共五十一页。光光电倍增倍增(bi zn)管管将光将光变成成电(阴极阴极)光光电子在倍增子在倍增(bi zn)(bi zn)级中倍增中倍增(bi zn)(bi zn)阳极阳极输出出电脉冲脉冲光耦合光耦合剂和光和光导第十五页,共五十一页。放射性探放射性探测器中使用器中使用(shyng)(shyng)的的电子子仪器器 电脉冲通脉冲通过电子子仪器的状器的状况况(zhungkung)(zhungkung).定定标器或
12、器或记录仪是在是在给定的定的时间内,累内,累计、显示,由脉示,由脉冲高度分析器冲高度分析器输出的信号。出的信号。各种探各种探测器器电子子线路部分基路部分基本相同本相同.第十六页,共五十一页。探测器的调试探测器的调试(dio sh)确定甑别域值确定工作电压调整放大倍数计算探测(tnc)效率(E)品质因素(F)的计算甑别域计数率有源无源(w yun)工作阈值第十七页,共五十一页。放射性样品(yngpn)的测量 探测器的测量方式:定量测量(获得样品量多少的测量)绝对测量:利用测量装置直接测量或经过(jnggu)各种校正后测得样品的活度。相对测量:将样品和标准源在相同条件下进行测量。定性测量:根据放射
13、性核素在衰变时都会发射(fsh)出自己特征能 量的射线,分析判断出射线种类样品的计数(cps)-本底计数(cps)E(探测效率)测量样品的制备 液闪测量中的淬灭校正方法 样品的衰变数(dps)=第十八页,共五十一页。测量样品(yngpn)的制备放射性测量对样品(yngpn)制备的要求不高。相比之下液闪测量,多数样品需根据其测量形式进行一定的处理。液闪测量,包括:均相测量和非均相测量。非均相测量,包括:乳浊液测量法、悬浮液测量、固相法。液体体积一样,固体摆放位置一致。Tritonx-甲苯-水乳化剂:凝胶剂(硬脂酸铝等)一定大小微粒固相载体摆放位置第十九页,共五十一页。液闪测量中的淬灭校正(jio
14、zhng)方法 内标准源法:样品计数效率用外加的标准源(对标准源有要求)来确定。具体操作步骤是:先测样品计数率(C1);加入已知活度(A)的标准源,并计数(C2);确定计数效率E。样品道比法:原理:1、淬灭时,谱脉冲高度(god)降低,能谱左移(见图(1)2、谱在给定的两个道内计数比值发生变化(见图(2)3、道比值与淬灭程度与仪器探测效率有线性关系(见右下图)。具体方法见后。外标准源道比法 淬灭1淬灭2计数率脉冲高度(1)无淬灭计数率B无淬灭A淬灭1淬灭2C脉冲(michng)高度(2)图2-15.淬灭对谱的影响第二十页,共五十一页。用样品(yngpn)道比法进行淬灭校正的方法是:配制一组(一
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