模电课后习题解答.pdf
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1、第三部分习题与解答习题1客观检测题一、填空题1、在杂质半导体中,多数截流子的浓度主要取决于掺入的杂 质 浓 度,而少数载流子的浓度则与 温 度 有很大关系。2、当 PN结外加正向电压时,扩 散 电 流 大于 漂 移 电 流,耗 尽 层 变 窄。当外加反向电压时,扩 散 电 流 小 于 漂 移 电 流,耗 尽 层 变 宽。3、在 N型半导体中,电子为多数载流子,空穴 为少数载流子。二.判断题1、由于P型半导体中含有大量空穴载流子,N型半导体中含有大量电子载流子,所以P型半导体带正电,N型半导体带负电。(x )2、在 N型半导体中,掺入高浓度三价元素杂质,可以改为P型半导体。(4 )3、扩散电流是
2、由半导体的杂质浓度引起的,即杂质浓度大,扩散电流大;杂质浓度小,扩散电流小。(X )4、本征激发过程中,当激发与复合处于动态平衡时,两种作用相互抵消,激发与复合停止。(x )5、PN结在无光照无外加电压时,结电流为零。()6、温度升高时,PN结的反向饱和电流将减小。(x )7、PN结加正向电压时,空间电荷区将变宽。(x )三.简答题1、PN结的伏安特性有何特点?V答:根据统计物理理论分析,PN结的伏安特性可用式攵=15 西-1)表示。式中,ID为流过PN结的电流;I s 为 PN结的反向饱和电流,是一个与环境温度和材料等有关的参数,单位与I 的单位一致;V为外加电压;V T=k T/q,为温度
3、的电压当量(其单位 与 V 的 单 位 一 致),其 中 玻 尔 兹 曼 常 数 A =1.38x10*/爪,电 子 电 量q=1.60217731x10-19c(库伦),则 VT=-(V),在 常 温(T=300K)下,11594.2vVT=25.875mV=26mVo当外加正向电压,即 V 为正值,且 V 比VT大几倍时,e T 1 ,于V是 1=1。口,这时正向电流将随着正向电压的增加按指数规律增大,P N 结为正向导通状V态.外加反向电压,即 V 为负值,且|V|比VT大几倍时,eVT 1,于是这时PN 结只流过很小的反向饱和电流,且数值上基本不随外加电压而变,PN结呈反向截止状态。P
4、N结的伏安特性也可用特性曲线表示,圳 图 1.1.1所示.从式(1.1.1)伏安特性方程的分析和图1.1.1特性曲线(实线部分)可见:PN 结真有单向导电性和非线性的伏安特性。2、什么是PN 结的反向击穿?PN结的反向击穿有哪几种类型?各有何特点?答:“PN”结的反向击穿特性:当加在“PN”结上的反向偏压超过其设计的击穿电压后,PN 结发生击穿。PN结的击穿主要有两类,齐纳击穿和雪崩击穿。齐纳击穿主要发生在两侧杂质浓度都较高的PN 结,一般反向击穿电压小于4Eg/q(EgPN 结量子阱禁带能量,用电子伏特衡量,Eg/q指 PN 结量子阱外加电压值,单位为伏特)的 PN 的击穿模式就是齐纳击穿,
5、击穿机理就是强电场把共价键中的电子拉出来参与导电,使的少子浓度增加,反向电流上升。雪崩击穿主要发生在“PN”结一侧或两侧的杂质浓度较低“PN”结,一般反向击穿电压高于 6 Eg/q的“PN”结的击穿模式为雪崩击穿。击穿机理就是强电场使载流子的运动速度加快,动能增大,撞击中型原子时把外层电子撞击出来,继而产生连锁反应,导致少数我流子浓度升高,反向电流剧增。3、PN 结电容是怎样形成的?和普通电容相比有什么区别?PN结电容由势垒电容C b和扩散电容C d组成。势垒电容C b是山空间电荷区引起的。空间电荷区内有不能移动的正负离子,各具有一定的电量。当外加反向电压变大时,空间电荷区变宽,存储的电荷量增
6、加;当外加反向电压变小时,空间电荷区变窄,存储的电荷量减小,这样就形成了电容效应。“垫垒电容”大小随外加电压改变而变化,是一种非线性电容,而普通电容为线性电容。在实际应用中,常用微变电容作为参数,变容二极管就是势垒电容随外加电压变化比较显著的二极管。扩 散 电 容Cd是载流子在扩散过程中的积累而引起的。PN结加正向电压”0寸,N区的电子向P区扩散,在P区形 AQ成一定的电子浓度(N p)分布,PN结边缘 /处浓度大,离结远的地方浓度小,电子浓度按指数规律变化。当正向电压增加 _时,载流子积累增加了4Q;反之,则 E 7图1 3 3 P区中电子浓度的分布曲线及电荷的积累减小,如 图1.3.3所示
7、。同理,在N区内空穴浓度随外加电压变化而变化的关系与P区电子浓度的变化相同。因此,外加电压增加 时 所 出 现 的 正 负 电 荷 积 累 变 化、,可用扩散电容C d来模拟。C d也是一种非线性的分布电容。综上可知,势垒电容和扩散电容是同时存在的。PN结正偏时,扩散电容远大于势垒电容;PN结反偏时,扩散电容远小于势垒电容。势垒电容和扩散电容的大小都与PN结面积成正比。与普通电容相比,PN结电容是非线性的分布电容,而普通电容为线性电容。习 题2客观检测题一、填空题1、半导体二极管当正偏时,势垒区 变窄,扩散电流大于 漂移电流。2、在常温下,硅 二 极 管 的 门 限 电 压 约 导 通 后 在
8、 较 大 电 流 下 的 正 向 压 降 约0 7V;错二极管的门限电压约 0.1 V,导通后在较大电流下的正向压降约0.2 V。3、在常温下,发 光 二 极 管 的 正 向 导 通 电 压 约,下 硅 二 极 管 的 门 限 电 压;考虑发光二极管的发光亮度和寿命,其工作电流一般控制在5 10 mA。4、利用硅PN 结在某种掺杂条件下反向击穿特性陡直的特点而制成的二极管,称为普通(稳压)二极管。请写出这种管子四种主要参数,分 别 是 最大整流电流、反向击穿电压、反向电流和极间电容。二、判断题1、二极管加正向电压时,其正向电流是由(a)。b.多数载流子漂移形成d.少数载流子扩散形成但小于击穿电
9、压,(C )ob.其反向电流减小d.其正向电流增大)ob.反偏截止特性d.反向击穿特性a.多数载流子扩散形成c.少数载流子漂移形成2、PN 结反向偏置电压的数值增大,a.其反向电流增大c.其反向电流基本不变3、稳压二极管是利用PN结 的(a.单向导电性c.电容特性4、二极管的反向饱和电流在20时是5piA,温度每升高10,其反向饱和电流增大一倍,当温度为40时,反向饱和电流值为(c)。a.10|iA b.I5|1A c.20pA d.40HA5、变容二极管在电路中使用时,其 PN结 是(b)。a.正向运用 b.反向运用三、问答题1、温度对二极管的正向特性影响小,对其反向特性影响大,这是为什么?
10、答:正向偏置时,正向电流是多子扩散电流,温度对多子浓度几乎没有影响,因此温度对二极管的正向特性影响小。但是反向偏置时,反向电流是少子漂移电流,温度升高少数载流子数量将明显增加,反向电流急剧随之增加,因此温度对二极管的反向特性影响大。2、能否将L5V的干电池以正向接法接到二极管两端?为什么?答:根据二极管电流的方程式将 V=1.5V代入方程式可得:/=20 xl0-12(e150/26-l)20 xl0-12xel500/26Igl=lg 20-12+-lg e =143426故/=2.18xlO(A)虽然:极管的内部体电阻、引线电阻及电池内阻都能起限流作用,但过大的电流定会烧坏二极管或是电池发
11、热失效,因此应另外添加限流电阻。3、有A、B两个二极管。它们的反向饱和电流分别为5mA和0.2,在外加相同的正向电压时的电流分别为2 0 m A和8mA,你认为哪一个管的性能较好?答:B好,因 为B的单向导电性好;当反向偏置时,反向饱和电流很小,二极管相当于断路,其反向偏置电阻无穷大。4、利用硅二极管较陡峭的正向特性,能否实现稳压?若能,则二极管应如何偏置?答:能实现稳压,二极管应该正向偏置,硅二极管的正偏导通电压为0.7 V;因此硅二极管的正向特性,可以实现稳压,其稳压值为0.7 V。5、什么是齐纳击穿?击穿后是否意味着PN结损坏?答:齐纳击穿主要发生在两侧杂质浓度都较高的PN结,其空间电荷
12、区较窄,击穿电压较 低(如5V以下),一般反向击穿电压小于4 E g/q (E g PN结量子阱禁带能量,用电子伏特衡量,E g/q指PN结量子阱外加电压值,单位为伏特)的PN的击穿模式就是齐纳击穿,击穿机理就是强电场把共价键中的电子拉出来参与导电,使的少子浓度增加,反向电流上升。发生齐纳击穿需要的电场强度很大,只有在杂质浓度特别大的PN结才能达到。击穿后并不意味着PN结损坏,当加在稳压管上的反向电压降低以后,管子仍然可以恢复原来的状态。但是反向电流和反向电压的乘积超过PN结容许的耗散功率时,就可能由电击穿变为热击穿,而造成永久性的破坏。电击穿PN结未被损坏,但是热击穿PN结将永久损坏。主观检
13、测题2.1.1试用电流方程式计算室温下正向电压为0.2 6 V和反向电压为I V时的二极管电流。(设Is=1 0/z 4 )解:由公式 ID=Is-1)=Is-1)由于/s =1 OJJA,VT=0.026V正向偏置VD=0.26V时ID=Is(eVv,Vr-1)=io1 2 6/o o 2 6 一 1)=i o,。一 i)=220264(/A)=0.22A当反向偏置匕,=T V时-Is=T 0A2.1.2 写出题图2.1.2 所示各电路的输出电压值,设二极管均为理想二极管。解:ro l2 V (二极管正向导通),匕2=0 (二极管反向截止),%3 7-2 V (二极管正向导通),7W2V(二
14、极管反向截止),rO 52 V (二极管正向导通),6=-2 V (二极管反向截止)。O十D 公VT_D 乂R2V 2 V 牛-1-6题图2.1.22.1.3 重复题2.1.2,设二极管均为恒压降模型,且导通电压VD=0.7V。解:%产1.3 V (二极管正向导通),UO 2=0(二极管反向截止),t/o 3 -l-3 V (二极管正向导通),产2 V (二极管反向截止),/O51.3V(二极管正向导通),C/O 6-2 V (二极管反向截止)。2.1.4 设题图2.1.4 中的二极管均为理想的(正向可视为短路,反向可视为开路),试判断其中的二极管是导通还是截止,并求出/、。两端电压解:题图2
15、.1.4 所示的电路图中,图(a)所示电路,二极管D导通,VAO=-6V,图(b)所示电路,二极管D 1 导通,D 2 截止,VAO=-0V,图(c)所示电路,二极管D i导通,D 2 截止,VA O=-0 V 2.1.5 在用万用表的R x 1 0。,火x 1 0 0。和火x 12三个欧姆档测量某二极管的正向电阻时,共测得三个数据;4 旧,8 5。禾 口 6 8 0 Q ,试判断它们各是哪一档测出的。解:万用表测量电阻时,对应的测量电路和伏安特性如图2.1.5 所示,实际上是将流过电表的电流换算为电阻值,用指针的偏转表示在表盘上。当流过的电流大时,指示的电阻小。测量时,流过电表的电流由万用表
16、的内阻和二极管的等效直流电阻值和联合决定。通常万用表欧姆档的电池电压为E i=1.5 V,A x 1 0/2 档时,表头指针的满量程为1 0 0 S(测量电阻为0,流经电阻Ri的电流为10mA),万用表的内阻为R,0=150A;RxlOOA档时,万用表的内阻为R“oo=lOR“o=15OOa(测量电阻为0,表头满量程时,流 经R的电流为1mA);档 时(测量电阻为0,表头满量程时,流经Ri的电流为0.1mA),万用表的内阻为Riia=1007f,I0=15k。;由图可得管子两端的电压V和电流I之间有如下关系:RxlOQ 档时,内阻K“o=15OQ;V,=1.5-/,/?,10=1.5-150/
17、,RxlOOQ 档时,内阻此=1 5 0 0/2;V,=1.5=1.5-1 5 0 0 7,R xlJta档时,内阻Kioo=1 5 a;V3=1.5-73/?,U=1.5-15000Z3从伏安特性图上可以看出,用R x io a档测量时,万用表的直流负载线方程与二极管的特性曲线的交点为A,万用表的读数为用RxlOOA档测量时,万用表的直流负载线方程与二极管的特性曲线的交点为B,万用表的读数为V2/I2。用R xlA A档测量时,万用表的直流负载线方程与二极管的特性曲线的交点为C,万用表的读数为V3/I3。V V V由图中可以得出 I7=5mA,500)Zm,大于其最小稳定电流,所以稳压管击穿
18、。故 匕1=6 V。(2)当匕=1 0 V时,若%2=6 V,则稳压管的电流为1272?=R =0.002(A)=2mA /ZM=2 5 m A,稳压管将因功耗过大而损坏。2.2.5 电路如题图2 2 5 所示,设所有稳压管均为硅管(正向导通电压为VD=0.7 V),且稳定电压V z=8 V,已知Vi=1 5 si n sf(V),试画出助 和 vO2的波形。_ _ 3kQ?T?不-?V:D/2S Va,Vi-%)o Ao 6(.o(a)题图 2 2 5(b)解:题 图 2 2 5所示的电路图中,:,二、a),当 匕:匕=8丫时;稳压管D/反向击穿,%=8 V :当匕 一%=-0.7 V 时,
19、稳压管D z 正向导通,=-0.7 V;当 一 0.7V=-VD v,.+VZ=8V 时,稳压管 D z i 和 D z 2未击穿,。对应题图2.2.5(a)电路的输出电压的波形如图2.2.5(a)所示。对于图(b),当匕2%+匕,=&7 丫 时,稳压管D z i 正向导通、D z 2反向击穿,h=8V;当匕一%一匕)=一8 7丫 时,稳压管D z i 反向击穿、D z 2正向导通,力=-8 V;当 8.7V=Vz VD Vj V(B R)CESV(B R)C E R。V(B R)CESV(B R)C E R V(B R)C E O。V(B R)CERV(B RCESV(B R)C E O。V
20、(B R)CESV(B R)CEOV B R)C E R。9 .题图3 0 6 所示电路中,用直流电压表测出VC EM V,有可 能 是 因 为 C或 D 。A R b 开路B R e 短路C Rb过小D P过大10 .测得电路中几个三极管的各极对地电压如迦囹J.U./万小。试判断各三极管的工作状态。-5 V +2.4V?o-O.V+2,7V-5.3V0Voo6OV 0V(b)题图 3,0.7(c)d0V(d)答:题 图 3.0 7所示的各个三极管的工作状态,图(a)为放大,图(b)为 放 大,图(c)为饱和,图(d)为 C、E极间击穿。11.用万用表直流电压档测得电路中晶体管各电极的对地电位
21、,如题图3.0.8示,试判断这些晶体管分别处于哪种工作状态(饱和、放大、截止或已损坏)?-8.5V o+12V。+6V答:题图3.0 7所示的各个三极管的工作状态,图(a)为损坏,图(b)为放大,图(c)为放大,图(d)为截止,图(e)为损坏,图(f)为 饱 和(或 B、C极间击穿)。12.放大电路如题图3 0 9 所示,对于射极电阻凡的变化是否会影响电压放大倍数4 和输入电阻用的问题,有三种不同看法,指出哪一种是正确的?甲:当凡增大时,负反馈增强,因此|4,|)、()乙:当凡增大时,静态电流 减小,因此|4|J、&T。()丙:因电容C;,对交流有旁路作用,所以凡的变化对交流量不会有丝毫影响,
22、因此,当 增大时,4 和尺均无变化。解:本题意在我们要搞清凡,,在分压式电流负反馈偏置电路中的作用,从表面看,&被 Q 交流旁路了,对交流量无影响(即不产生交流负反馈),所以凡的变化不影响4 和4,这是本题容易使我们产生错觉的地方。但我们还必须进一步考虑,尽管凡不产生交流负反馈,但它对放大器的静态工作点的影响是很大的,既然影响到/怎,就影响到进而影响4,和甲的说法是错误的,原因:因Q 的旁路作用,所以凡不产生交流负反馈,所以甲的观点前提就是错的。乙的说法是正确的。原因:4 Tf iCQ UE。)Jf%Tf A,J;-rb,R,=RhHrbe,:.A,.T丙的说法是错误的,原因:正如解题分析中所
23、说,尽管 不产生负反馈,但凡增大使/磅减小,/的减小必然引起|4|减小和用的增加。主观检测题3.1.1把一个晶体管接到电路中进行测量,当测量=6/时,则 心=0.4 和4,当测得IB=1 8 M 时,/=L 12mZ,问这个晶体管的力值是多少?/c s o 和 各 是 多 少?解:根据电流关系式:几=夕 +(1+。,可得0.4mA=p x 0.006mA+(1+P)I CBO(1)1.12mA=P x 0.018mA+(1+P)ICBO(2)将(1)、(2)两式联立,解其联立方程得:夕=60 ICBO 0.66/A进而可得:ICEO=(+ft)ICBO=0.66/A x 61=40/A3.1.
24、2 根据题图3.1.2 所示晶体三极管3 B X 3 1 A 和输出特性曲线,试 求 Q 点 处 公=3%,Ic=4mA,IB=50(JA的下和/3值A和a值。题图3.1.24mA0.2mA=20,a =Bi+B=0.952mAQAmA=20a =pi+B=0.953.1.3 硅三极管的 =50,/a。可以忽略,若接为题图3.1.3),要求=2 机/,问火 后 应题图3.1.3解:(a)IB=n-=40(JjA)B p 50 JIE=(1+j3)IB=2.04mAj _ 6-%E-k6-=6-0 7=)E IK 2.04 )(b)/尸 紧 等=40(A)B IB 0.043.3.1 在晶体管放
25、大电路中,测得三个晶体管的各个电极的电位如题图3 3 1 所示,试判断各晶体管的类型(P N P 管还是NPN管,硅管还是错管),并区分e、b、c 三个电极。题图3.3.1解:题图3.3.1 (a)所示的晶体管为错N P N 管,三个引脚分别为e 极、b极、c极。题图3.3.1(b)所示的晶体管为硅P N P 管,三个引脚分别为c 极、b极、e 极。题图3.3.1(c)所示的晶体管为错P N P 管,三个引脚分别为b极、e 极,c 极。3.3.2 在某放大电路中,晶体管三个电极的电流如题图3.3.2 所示,已测出人=-1.2 九4,I2 0.03mA,4=L 2 3 加,试判断e、b、c三个电
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