数据通信接口设计思考.docx
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1、 数据通信接口设计思考 随着信息产业的快速进展,半导体集成电路被广泛地应用于通信、电子、计算机等相关的各个领域1,集成电路的牢靠性问题也得到越来越多人的关注。因此制造商对生产出的芯片进展出厂前的测试是必不行少的,比方在高温环境下对芯片供应正常值以上的电压,不断地赐予动态信号等。但这些常用的方法并不高效,老化的本钱也较高,假如在这些方法的根底上加上一些必要的功能测试,收集故障点的一些有用信息,是比拟合理的方法。集成电路高温动态老化测试就是在高温下对芯片施加应力的同时进展各类功能测试,让芯片超负荷工作而使其缺陷加速暴露,从而剔除有故障芯片的过程2。本文设计了一种数据通信系统,以Altera公司的C
2、yclone系列现场可编程门阵列(Field-ProgrammableGateArray,FPGA)芯片EP3C16Q240C8为核心,结合三星公司的16/32位高级精简指令集微处理器(AdvancedISCMachines,AM)芯片S3C2440A,采纳并行处理和流水线技术,完成整个集成电路动态老化的测试过程。 1系统总体设计 本文设计的系统总体构造如图1所示。S3C2440A采纳了新的总线架构如先进微掌握总线架构,低功耗,简洁,精巧,且全静态设计特殊适合于对本钱和功率敏感型的应用。EP3C16Q240C8拥有丰富的I/O资源和规律资源,具有高速并行处理力量,在数据采集领域具有重要的应用价
3、值4。两者之间的信号传输方式采纳外部总线:指令Cmd20,数据Data1150。FPGA受AM写使能W_EN和读使能_EN的掌握,当W_EN为低电平常,AM在写时钟Clk_wr的上升沿将相应的数据通过16位数据总线Data1写入到FPGA中,此时FPGA内与16位数据总线相对应的IO口全部变成输入状态;当_EN为低电平常,AM在读时钟Clk_rd的上升沿通过16位的数据总线Data1从FPGA中读取相应的数据,此时FPGA内与16位数据总线相对应的IO口全部变成输出状态。上位机中的数据通过以太网传输到AM中,最终通过流水线技术储存到FPGA内部的AM中;同时FPGA也时刻接收来自测试芯片反应回
4、的数据,将其保存到内部的另一块AM空间中。由于AM空间有限,反应回的数据将不断地被新接收到的数据刷新。 AM内部储存的数据如图2所示。数据帧长度即上位机一个周期内需要给测试芯片发送的老化测试数据的数据总量,在这里以16bits为一帧;理论反应数据为在测试芯片正常工作的状况下理论上应得到的反应数据;老化测试数据经上位机向AM发送后存入FPGA内部的AM后,FPGA以自身内部独立的时钟将此数据通过双向总线Data2150的形式不断地发送到老化测试芯片中,与此同时测试芯片也将通过Data2不断地向FPGA发送老化反应数据。最终FPGA将理论上的反应数据和老化反应数据进展数据比对处理,得到老化测试错误
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- 关 键 词:
- 数据通信 接口 设计 思考
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