光台电测清洗工序工艺知识精.ppt

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1、光台电测清洗工序工艺知识第1页，本讲稿共33页第2页，本讲稿共33页第3页，本讲稿共33页清洗工艺的目的清洗工艺是采用物理的化学的方法将残留在清洗工艺是采用物理的化学的方法将残留在LCD产品产品表面及夹缝中的液晶分子及污染物清洗掉，以保证表面及夹缝中的液晶分子及污染物清洗掉，以保证产品的清洁。产品的清洁。清洗分为：清洗分为：1、有机溶剂、弱酸、弱碱清洗。、有机溶剂、弱酸、弱碱清洗。2、等离子风清洗。、等离子风清洗。3、紫外清洗。、紫外清洗。4、超声、喷淋、气流清洗。、超声、喷淋、气流清洗。第4页，本讲稿共33页清洗工艺的原理众所周知，人们所听到的声音是频率众所周知，人们所听到的声音是频率20-

2、20000Hz的声波信号，的声波信号，高于高于20000Hz的声波称之为超声波，声波的传递依照正弦曲线的声波称之为超声波，声波的传递依照正弦曲线纵向传播，即一层强一层弱，依次传递，当弱的声波信号作用纵向传播，即一层强一层弱，依次传递，当弱的声波信号作用于液体中时，会对液体产生一定的负压，即液体体积增加，液于液体中时，会对液体产生一定的负压，即液体体积增加，液体中分子空隙加大，形成许许多多微小的气泡，而当强的声波体中分子空隙加大，形成许许多多微小的气泡，而当强的声波信号作用于液体时，则会对液体产生一定的正压，即液体体积信号作用于液体时，则会对液体产生一定的正压，即液体体积被压缩减小，液体中形成的

3、微小气泡被压碎。经研究证明：超被压缩减小，液体中形成的微小气泡被压碎。经研究证明：超声波作用于液体中时，液体中每个气泡的破裂会产生能量极大声波作用于液体中时，液体中每个气泡的破裂会产生能量极大的冲击波，相当于瞬间产生几百度的高温和高达上千个大气压，的冲击波，相当于瞬间产生几百度的高温和高达上千个大气压，这种现象被称之为这种现象被称之为“空化作用空化作用”，超声波清洗正是用液体中气，超声波清洗正是用液体中气泡破裂所产生的冲击波来达到清洗和冲刷工件内外表面的作用。泡破裂所产生的冲击波来达到清洗和冲刷工件内外表面的作用。第5页，本讲稿共33页第6页，本讲稿共33页清洗不净造成的后果：清洗不净造成的后

4、果：1、产品清洗不净会有残留液晶在、产品清洗不净会有残留液晶在LCD表面及夹缝，影表面及夹缝，影响产品性能。响产品性能。3、产品清洗不净对外电极的污染，影响上、产品清洗不净对外电极的污染，影响上PIN质量。质量。2、产品清洗不净会残留清洗剂，残留清洗剂与液、产品清洗不净会残留清洗剂，残留清洗剂与液晶或污物等发生混合，在加电作用下，会发生电化晶或污物等发生混合，在加电作用下，会发生电化学反应，对电极可能造成腐蚀。学反应，对电极可能造成腐蚀。第7页，本讲稿共33页第8页，本讲稿共33页用什么材料清洗？本工序常用的清洗材料有：Fisher336A,Fisher12BQ 第9页，本讲稿共33页清洗工艺

5、参数:药液温度：505纯水温度：55 5烘干温度：85第10页，本讲稿共33页清洗造成的清洗造成的PI损伤：损伤：因产品反复清洗，清洗时间过长，造成了产品的因产品反复清洗，清洗时间过长，造成了产品的PI损伤，损伤，PI损伤的产品集中在集成度偏小的产品上。损伤位置如图：损伤的产品集中在集成度偏小的产品上。损伤位置如图：第11页，本讲稿共33页第12页，本讲稿共33页因为超声清洗的超声震子是平行于清洗槽的底部，因为超声清洗的超声震子是平行于清洗槽的底部，超声是由下往上进行震动的，当超声碰到水面反超声是由下往上进行震动的，当超声碰到水面反弹，这一上一下形成柱波，柱波的波峰与波谷交弹，这一上一下形成柱

6、波，柱波的波峰与波谷交替相叠。在柱波的波谷处超声功率为最强，而产替相叠。在柱波的波谷处超声功率为最强，而产品在超声的震动下产生了积分力，因此产品受力品在超声的震动下产生了积分力，因此产品受力较大部位发生了形变，当形变大于较大部位发生了形变，当形变大于SPASER粒径粒径时，时，SPASER会随着超声频率来回滚动，因此造会随着超声频率来回滚动，因此造成成PI损伤。损伤。第13页，本讲稿共33页清洗槽水面震子波峰波谷第14页，本讲稿共33页我们既然知道了我们既然知道了PI损伤产生的原因，又如损伤产生的原因，又如何解决呢？何解决呢？既然既然PI损伤是由于产品受到了功率较强的波柱损伤是由于产品受到了功

7、率较强的波柱的影响，我们可以把产品进行上下抛动，变化的影响，我们可以把产品进行上下抛动，变化产品处于波峰的位置，这样可以解决产品的产品处于波峰的位置，这样可以解决产品的PI损伤问题。损伤问题。第15页，本讲稿共33页第16页，本讲稿共33页 光台是利用光台是利用液晶的旋光性，液晶的旋光性，将产品放置于两将产品放置于两片偏光片之间，片偏光片之间，使产品达到亮场使产品达到亮场或暗场显示，以或暗场显示，以利于工作人员对利于工作人员对废品的判定。废品的判定。第17页，本讲稿共33页光台工序常用的检验文件：液晶显示器件成品检验规范。电测光台检验标准。一些与外公司临时达成的协议但仍未列入标准的文件。第18

8、页，本讲稿共33页光台主要的技术要求：各边距可视区的距离。产品的光学模式。产品的倒角程序。产品的废品类型的判定。第19页，本讲稿共33页光台工序常见的废品有那些？关于前段的废品：PI工序涂覆不良，PI划伤、未摩擦、污染、彩虹、前段原因造成的玻璃表面划伤、边框气泡、边框变形等。关于后段的废品：外观不良、表面划伤、表面状态、进胶状态，灌注状态、清洗状态等。第20页，本讲稿共33页以上产品废品的检验方法都已经在工序检验标准中做了详细的描述。例如外观：yxz齐边角崩裂 a80mm时,x5mm 拒收a3mm 拒收x或y1/3s 拒收破损造成导电点外露 拒收 第21页，本讲稿共33页有向内延伸趋势的裂痕

9、y外形尺寸不符合图纸要求 拒收台阶y0.25mm 拒收 第22页，本讲稿共33页盒内黑点、气泡、污染、白点=（长+宽）/2A类标准:0.1mm 允收0.1mm0.15mm 拒收0.1mm的两点距离10mm允收B类标准（特殊TN产品STN和FSTN执行此类标准）:0.1mm 允收0.1mm0.15mm 允收2个0.15mm0.2mm 拒收0.1mm的两点距离10mm允收C类标准:0.1mm 允收0.1mm0.20mm 允收2个0.2m0.25mm 拒收0.1mm的两点距离10mm允收第23页，本讲稿共33页第24页，本讲稿共33页电测工序的工艺原理：电测工序的工艺原理：利用液晶分子的旋光利用液晶

10、分子的旋光与双折射性，施加一定的与双折射性，施加一定的脉冲电荷，使脉冲电荷，使LCD形成电形成电场，液晶分子在电场的作场，液晶分子在电场的作用下排列方向发生改变，用下排列方向发生改变，配合偏光片，达到显示的配合偏光片，达到显示的目的。目的。第25页，本讲稿共33页电测工序常用的工艺参数：电测工序常用的工艺参数：1、占空比、占空比DUTY。2、偏压比、偏压比BIAS。3、饱和电压、饱和电压Vsat。4、阈值电压、阈值电压Vth。5、测试电压。、测试电压。6、视向。、视向。第26页，本讲稿共33页扫描一行行电极叫做一帧，将扫描一行行电极叫做一帧，将扫描一个行电极的时间与帧周扫描一个行电极的时间与帧

11、周期之比叫占空比（期之比叫占空比（1/D）。）。非选择点电压与选择点电压的非选择点电压与选择点电压的比值叫做偏压比（比值叫做偏压比（1/B）。）。B=D1/2+1第27页，本讲稿共33页饱和电压饱和电压Vsat、阈值电压、阈值电压Vth。当显示区域相对透过率变化达到最大值的10%时,所需电压为阈阈值电压值电压Vth当显示区域相对透过率变化达到最大值的90%时,所需电压为饱和电压饱和电压Vsat第28页，本讲稿共33页测试电压、视向 测试电压：根据占空比、偏压比及驱动电压算出测试电压。Vrms=Vop*（B2+D-1）/D）1/2/B式中1/B为偏压比、1/D为占空比、Vop为驱动电压。视向：观

12、察LCD屏显示最清楚的方向，用钟表盘上相应位置刻度表示第29页，本讲稿共33页电测工序常见的废品有以下几种：电测工序常见的废品有以下几种：1、短、断路。、短、断路。2、针孔。、针孔。3、显示不匀、显示斜纹、显示横竖纹。、显示不匀、显示斜纹、显示横竖纹。4、盒间短路。、盒间短路。5、电流大。、电流大。6、化字，缺画等。化字，缺画等。第30页，本讲稿共33页电测工序常用的检验标准同光台，部分示例如下：电测工序常用的检验标准同光台，部分示例如下：ABA：变形量15%拒收B：变形量15%拒收 AB0.25mm或1/3字节宽 拒收允收场合，1个字段最多1个，一粒屏最多3个 第31页，本讲稿共33页xxyyyxxy按缺陷22执行 第32页，本讲稿共33页再见再见.第33页，本讲稿共33页