模拟电子学基础PPT学习教案.pptx
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1、会计学 1模拟(mn)电子学基础第一页,共69页。场效应管 场效应管(FET)(FET)是一种利用电场效应来控制其电流大小 是一种利用电场效应来控制其电流大小(dxio)(dxio)的半导体器件,具有体积小、重量轻、耗电省、寿命长等特点。的半导体器件,具有体积小、重量轻、耗电省、寿命长等特点。场效应管 场效应管(FET)(FET)的分类 的分类(fn li)(fn li):按基本 按基本(jbn)(jbn)结构分 结构分金属 金属-氧化物 氧化物-半导体场效应管 半导体场效应管(MOSFET)(MOSFET)结型场效应管 结型场效应管(JFET)(JFET)增强型 增强型 耗尽型 耗尽型N N
2、沟道 沟道 P P沟道 沟道 N N沟道 沟道 P P沟道 沟道N N沟道 沟道 P P沟道 沟道第1页/共69页第二页,共69页。5.1 金属(jnsh)-氧化物-半导体(MOS)场效应管5.1.1 N 5.1.1 N 沟道 沟道(u do)(u do)增强型 增强型MOSFET MOSFET5.1.5 MOSFET5.1.5 MOSFET的主要参数的主要参数5.1.2 N5.1.2 N沟道沟道(u do)(u do)耗尽型耗尽型MOSFETMOSFET5.1.3 P5.1.3 P沟道沟道MOSFETMOSFET5.1.4 5.1.4 沟道长度调制效应沟道长度调制效应第2页/共69页第三页,
3、共69页。5.1.1 N 5.1.1 N沟道 沟道(u do)(u do)增强型 增强型MOSFET MOSFET1.1.结构 结构(jigu)(N(jigu)(N沟道增强型 沟道增强型)图 图5.1.1a 5.1.1a所示为 所示为 N N沟道 沟道(u do)(u do)增强型 增强型 MOSFET MOSFET的结构。的结构。L L:沟道长度:沟道长度 W W:沟道宽度:沟道宽度 t t ox ox:绝缘层厚度:绝缘层厚度衬底为低掺杂、电阻率较高的 衬底为低掺杂、电阻率较高的 P P型硅半导体 型硅半导体用扩散法在 用扩散法在P P型硅上形成两个高掺杂的 型硅上形成两个高掺杂的N N+区
4、 区在 在P P型硅上再形成一层 型硅上再形成一层S S i i O O 2 2绝缘薄层 绝缘薄层在绝缘层上安置一铝电极 在绝缘层上安置一铝电极 栅极 栅极g g在两个 在两个 N N+区上安置铝电极 区上安置铝电极 源极 源极 s s和漏极 和漏极 d d通常 通常 W W L L栅极与源极和漏极均无电接触,故称为 栅极与源极和漏极均无电接触,故称为 绝缘栅极 绝缘栅极。第3页/共69页第四页,共69页。图 图5.1.1b 5.1.1b和 和c c分别 分别(fnbi)(fnbi)为 为N N沟道增强型 沟道增强型 MOSFET MOSFET的简图和代表符号。的简图和代表符号。简图 简图(纵
5、剖面图 纵剖面图)电路符号 电路符号箭头方向代表 箭头方向代表P(P(衬底 衬底)指向 指向(zh xin)N(zh xin)N(沟道 沟道)垂直 垂直(chuzh)(chuzh)短划线代表沟道,表示未加适当栅压前漏源间无导电沟道。短划线代表沟道,表示未加适当栅压前漏源间无导电沟道。第4页/共69页第五页,共69页。2.2.工作 工作(gngzu)(gngzu)原理 原理(1)vGS=0(1)vGS=0,没有导电,没有导电(dodin)(dodin)沟道 沟道在图 在图5.1.2a 5.1.2a中,中,vGS=0(vGS=0(即栅源极短接 即栅源极短接),此时,此时(c sh)(c sh)源区
6、、漏区和衬底形成两个背靠背的 源区、漏区和衬底形成两个背靠背的PN PN结。结。此时,无论 此时,无论v v DS DS的极性,这两个 的极性,这两个PN PN结中总有一个处于反偏状态。结中总有一个处于反偏状态。当 当源极 源极 s s与 与衬底 衬底 B B相连并结电源 相连并结电源 V V DD DD的负极,的负极,漏极 漏极d d接 接V V DD DD的正极时,漏极和衬底间的 的正极时,漏极和衬底间的PN PN结为反偏,从而漏区和源区间的电阻阻值很大 结为反偏,从而漏区和源区间的电阻阻值很大(可高达 可高达10 1012 12 数量级 数量级),因此漏源区间的沟道为非导电沟道,即,因此
7、漏源区间的沟道为非导电沟道,即i i D D=0=0。V VDD DD第5页/共69页第六页,共69页。(2)vGSVT(2)vGSVT,出现,出现(chxin)N(chxin)N型导电沟道 型导电沟道在图 在图 5.1.2b 5.1.2b中,当 中,当 vDS=0 vDS=0,若在栅极,若在栅极 g g和源极 和源极 s s间加上正向 间加上正向(zhn xin)(zhn xin)电压 电压 VGG VGG,则形成以栅极和,则形成以栅极和 P P型硅衬底为两极,型硅衬底为两极,SiO2 SiO2绝缘层为中间介质的平板电容器。绝缘层为中间介质的平板电容器。从而形成一个垂直于半导体表面,由栅极
8、从而形成一个垂直于半导体表面,由栅极 g g指向 指向(zh xin)P(zh xin)P型衬底的强电场 型衬底的强电场(由于绝缘层很薄 由于绝缘层很薄)。由于该电场的方向是排斥空穴,吸引电子,而 由于该电场的方向是排斥空穴,吸引电子,而P P型衬底中多数载流子为空穴,因而衬底中接近 型衬底中多数载流子为空穴,因而衬底中接近栅极 栅极g g的空穴被排斥,衬底中的电子被吸引到 的空穴被排斥,衬底中的电子被吸引到 栅极 栅极g g附近,从而在 附近,从而在栅极 栅极g g附近形成耗尽层。附近形成耗尽层。这样当 这样当v v GS GS达到一定数值时,就在栅极 达到一定数值时,就在栅极g g附近的
9、附近的P P型衬底表面形成一个以电子为多子的 型衬底表面形成一个以电子为多子的 N N型薄层 型薄层反型层 反型层反型层实际上组成了一个 反型层实际上组成了一个源极 源极s s和 和漏极 漏极d d间的 间的N N型导电沟道,由于它是由 型导电沟道,由于它是由v v GS GS感应产生的,又被称为 感应产生的,又被称为感生沟道 感生沟道。显然 显然v v GS GS 反型层 反型层厚度 厚度 感生沟道电阻值 感生沟道电阻值 第6页/共69页第七页,共69页。因此,感生沟道的出现 因此,感生沟道的出现(chxin)(chxin),实际上将原来被,实际上将原来被P P型衬底隔开的源区和漏区连通,一
10、旦 型衬底隔开的源区和漏区连通,一旦vDS0 vDS0,则将有漏极电流,则将有漏极电流iD iD产生。产生。这种在 这种在vGS=0 vGS=0时无导电沟道,而必须依靠 时无导电沟道,而必须依靠vGS vGS的作用才能形成 的作用才能形成(xngchng)(xngchng)感生沟道的 感生沟道的FET FET称为 称为增强型 增强型FET FET开启 开启(kiq)(kiq)电压 电压VT VT:是指在漏源电压 是指在漏源电压v v DS DS作用下开始导电时的栅源电压 作用下开始导电时的栅源电压v v GS GS。显然,当 显然,当v v GS GS V V T T时:时:外加较小 外加较小
11、v v DS DS时,漏极电流 时,漏极电流 i i D D将随 将随v v DS DS的上升迅速增大;的上升迅速增大;随着 随着v v DS DS的上升,由于感生沟道内存在电位梯度,造成沟道厚度并不均匀:的上升,由于感生沟道内存在电位梯度,造成沟道厚度并不均匀:源极 源极 s s 漏极 漏极d d厚度 厚度 第7页/共69页第八页,共69页。当 当vDS vDS增大到一定程度 增大到一定程度(vGD=vGS(vGD=vGS vDS=VT)vDS=VT)时,靠近漏极 时,靠近漏极 d d的反型层消失,的反型层消失,vDS vDS继续 继续(jx)(jx)增大将形成夹断区,夹断点向源极 增大将形
12、成夹断区,夹断点向源极 s s方向移动。方向移动。如图 如图 5.1.2d 5.1.2d所示。所示。注意 注意(zh y)(zh y):虽然沟道 虽然沟道(u do)(u do)出现夹断,但夹断区 出现夹断,但夹断区(反型层消失后的耗尽区 反型层消失后的耗尽区)内仍可有电流通过,只有将沟道 内仍可有电流通过,只有将沟道(u do)(u do)全部夹断,才能使 全部夹断,才能使iD=0 iD=0。由于当 由于当v v DS DS继续增加,夹断点向源极 继续增加,夹断点向源极s s方向移动,因此夹断区增大,从而导电沟道电阻增大,因而 方向移动,因此夹断区增大,从而导电沟道电阻增大,因而i i D
13、D基本不变,即 基本不变,即i i D D趋于饱和。趋于饱和。第8页/共69页第九页,共69页。从输出特性曲线上看,这三个区域分为截止 从输出特性曲线上看,这三个区域分为截止(jizh)(jizh)区、可变电阻区和饱和区,如图 区、可变电阻区和饱和区,如图5.1.3a 5.1.3a所示。所示。截止 截止(jizh)(jizh)区:区:可变电阻区:可变电阻区:iD iD 随 随vDS vDS 增加 增加(zngji)(zngji)迅速上升 迅速上升饱和区:饱和区:i i D D基本不变,趋于饱和 基本不变,趋于饱和预夹断:预夹断:由可变电阻区进入饱和区时的夹断状况,其临界条件为 由可变电阻区进入
14、饱和区时的夹断状况,其临界条件为或 或第9页/共69页第十页,共69页。3.V-I 3.V-I特性曲线 特性曲线(qxin)(qxin)及大信号特性方 及大信号特性方程 程(1)(1)输出特性 输出特性(txng)(txng)及大信号特性 及大信号特性(txng)(txng)方程 方程MOSFET MOSFET的输出特性:在栅源电压 的输出特性:在栅源电压vGS vGS一定 一定(ydng)(ydng)时,漏极电流 时,漏极电流iD iD与漏源电压 与漏源电压vDS vDS间的关系。间的关系。图 图5.1.3b 5.1.3b所示为 所示为N N沟道增强型 沟道增强型MOS MOS管的完整输出特
15、性。管的完整输出特性。根据预夹断的临界条件:根据预夹断的临界条件:可画出预夹断轨迹,如图中虚线所示。可画出预夹断轨迹,如图中虚线所示。下面对这三个区域进行讨论。下面对这三个区域进行讨论。第10页/共69页第十一页,共69页。截止 截止(jizh)(jizh)区 区当 当vGS vGS VT VT时,导电沟道 时,导电沟道(u do)(u do)尚未形成,尚未形成,iD iD 0 0,为截止工作状态。,为截止工作状态。可变电阻区 可变电阻区其中 其中(qzhng)(qzhng)式中:式中:n n 反型层中电子迁移率 反型层中电子迁移率C C ox ox 栅极 栅极(与衬底间 与衬底间)氧化层单位
16、面积电容 氧化层单位面积电容 本征电导因子 本征电导因子K K n n 电导常数,单位:电导常数,单位:mA/V mA/V 2 2第11页/共69页第十二页,共69页。在特性 在特性(txng)(txng)曲线原点附近,由于 曲线原点附近,由于 vDS vDS很小,因此可将 很小,因此可将 iD iD写成:写成:由此可求出当 由此可求出当vGS vGS一定 一定(ydng)(ydng)时,在可变电阻区,原点附近的输出电阻 时,在可变电阻区,原点附近的输出电阻rdso rdso为 为该式表明 该式表明(biomng)rdso(biomng)rdso为一个受 为一个受vGS vGS控制的可变电阻
17、控制的可变电阻 饱和区 饱和区(恒流区又称放大区 恒流区又称放大区)且 且 进入饱和区 进入饱和区由于在饱和区,可近似看成 由于在饱和区,可近似看成 i i D D不随 不随 v v DS DS变化,因此可用预夹断点对应的 变化,因此可用预夹断点对应的 i i D D来表示。来表示。即 即式中 式中为v GS 2V T 时预夹断点对应的 预夹断点对应的的i D第12页/共69页第十三页,共69页。(2)(2)转移 转移(zhuny)(zhuny)特性 特性由前面的分析 由前面的分析(fnx)(fnx)可知,可知,FET FET为电压控制器件,即在工作时,栅极输入端 为电压控制器件,即在工作时,
18、栅极输入端g g基本上无电流,因而讨论其输入特性没有意义。基本上无电流,因而讨论其输入特性没有意义。这里用所谓的转移 这里用所谓的转移(zhuny)(zhuny)特性,来表征在漏源电压 特性,来表征在漏源电压vDS vDS一定时,栅源电压 一定时,栅源电压vGS vGS对漏极电流 对漏极电流iD iD的控制特性,即:的控制特性,即:转移特性曲线可以从输出特性曲线上,用作图法而得:转移特性曲线可以从输出特性曲线上,用作图法而得:第13页/共69页第十四页,共69页。例 例5.1.1 5.1.1 设 设N N沟道增强型 沟道增强型MOS MOS管的参数为 管的参数为VT=0.75V VT=0.75
19、V,W=30m W=30m,L=3m L=3m,n=650cm2/Vs n=650cm2/Vs,Cox=76.710-9F/cm2 Cox=76.710-9F/cm2,且,且vGS=2VT vGS=2VT,MOSFET MOSFET工作在饱和区。试计算此时 工作在饱和区。试计算此时(c sh)(c sh)场效应管的工作电流 场效应管的工作电流iD iD。解:解:当 当v v GS GS=2=2V V T T时,有 时,有第14页/共69页第十五页,共69页。5.1.2 N 5.1.2 N沟道 沟道(u do)(u do)耗尽型 耗尽型MOSFET MOSFET1.1.结构和工作原理 结构和工作
20、原理(yunl)(yunl)简述 简述N N沟道耗尽 沟道耗尽(ho jn)(ho jn)型 型MOSFET(D MOSFET(D型 型NMOS NMOS管 管)的结构与增强型基本相同,如图 的结构与增强型基本相同,如图 5.1.5a 5.1.5a所示。所示。不同之处:不同之处:二氧化硅绝缘层中掺有大量的正离子 二氧化硅绝缘层中掺有大量的正离子即使在 即使在v v GS GS=0=0时,也能在源区和漏区间形成 时,也能在源区和漏区间形成N N型沟道,将这两区连通。型沟道,将这两区连通。图 图5.1.5b 5.1.5b为其电路符号,注意与增强型符号的差别。为其电路符号,注意与增强型符号的差别。因
21、此,对 因此,对N N沟道耗尽型 沟道耗尽型MOSFET MOSFET而言,在 而言,在 v v GS GS=0=0时,在正 时,在正v v DS DS的作用下,仍有较大的漏极电流 的作用下,仍有较大的漏极电流i i D D产生。产生。第15页/共69页第十六页,共69页。当 当vGS0 vGS0时,由于绝缘层的存在,不会产生 时,由于绝缘层的存在,不会产生(chnshng)(chnshng)栅极电流 栅极电流 iG iG,而,而v v GS GS 0 0吸引更多电子进入导电 吸引更多电子进入导电(dodin)(dodin)沟道 沟道 使沟道 使沟道(u do)(u do)变宽 变宽i i D
22、 D增大 增大当 当v v GS GS 0 0时,由于沟道内感应电子减少,沟道变窄,从而 时,由于沟道内感应电子减少,沟道变窄,从而i i D D减小;当 减小;当v v GS GS为负电压到达某值时,沟道完全被夹断,此时漏极电流 为负电压到达某值时,沟道完全被夹断,此时漏极电流i i D D=0=0,此时的,此时的v v GS GS称为 称为夹断 夹断(截止 截止)电压 电压 V V P P。可见,可见,N N沟道耗尽型 沟道耗尽型 MOSFET MOSFET可在 可在正负 正负 v v GS GS下工作,而且基本无栅极电流 下工作,而且基本无栅极电流 i i G G,这是耗尽型,这是耗尽型
23、 MOSFET MOSFET的重要特点之一。的重要特点之一。第16页/共69页第十七页,共69页。2.V-I 2.V-I 特性 特性(txng)(txng)曲线及大信号特性 曲线及大信号特性(txng)(txng)方程 方程N N沟道 沟道(u do)(u do)耗尽型 耗尽型MOSFET MOSFET的输出特性和转移特性如图 的输出特性和转移特性如图5.1.6a 5.1.6a和 和b b所示。所示。耗尽型的夹断电压为 耗尽型的夹断电压为VP0 VP0,其电流方程,其电流方程(fngchng)(fngchng)可用增强型的方程 可用增强型的方程(fngchng)(fngchng),只是需将,只
24、是需将VT VT换成 换成VP VP。第17页/共69页第十八页,共69页。对 对vGS=0 vGS=0时的输出特性曲线 时的输出特性曲线(qxin)(qxin)而言,在饱和区的 而言,在饱和区的 iD iD为:为:根据前面的公式,耗尽 根据前面的公式,耗尽(ho jn)(ho jn)型 型MOS MOS管在饱和区的 管在饱和区的iD iD为:为:式中 式中IDSS IDSS称为零栅压的漏极电流 称为零栅压的漏极电流(dinli)(dinli)饱和漏极电流 饱和漏极电流(dinli)(dinli)。由此耗尽型 由此耗尽型MOSFET MOSFET的饱和区 的饱和区V-I V-I 特性表达式可写
25、成:特性表达式可写成:第18页/共69页第十九页,共69页。5.1.3 P5.1.3 P沟道沟道(u do)MOSFET(u do)MOSFET与 与N N型 型MOS MOS管相似,管相似,P P型 型MOS MOS管也有增强型和耗尽型两种,如图 管也有增强型和耗尽型两种,如图5.1.7a 5.1.7a和 和b b所示,为它们的电路 所示,为它们的电路(dinl)(dinl)符号。符号。可见,除代表衬底的 可见,除代表衬底的B B的箭头方向外,其他 的箭头方向外,其他(qt)(qt)与 与NMOS NMOS相同。相同。注意:注意:为能正常工作,为能正常工作,PMOS PMOS管外加的 管外加
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