系统工程总结范文(完整版).doc
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1、系统工程总结范文(完整版)文档资料可直接使用,可编辑,欢迎下载系统工程总结第一章1.系统的定义系统可被定义为具有一定功能的、相互间具有有机联系的由许多要素所构成的一个整体。2.系统的特性集合性相关性阶层性整体性目的性环境适应性_系统工程定义系统工程就是从系统的观点出发,跨学科的考虑问题,运用工程的方法来研究和解决各种系统问题,以实现系统目标的综合最优化。4.系统工程的理论基础一般系统论、大系统理论、经济控制论、运筹学第二章1.系统分析基本过程(简答)阐明问题谋划备选方案预测未来环境建模和估计后果比较备选方案_系统工程方_1.霍尔三维结构(时间维,逻辑维,知识维)霍尔三维结构集中体现了系统工程方
2、法的总体化、综合化、最优化、程序化和标准化的特点,是系统工程基本工作过程的集中体现。霍尔三维结构强调明确目标,核心内容是最优化,并认为现时问题基本上都可以归纳成工程系统问题,应用定量分析手段,求得最优解。霍尔三维结构具有研究方法上的整体性(三维)、技术应用上的综合性(知识维)、_管理上的科学性(时间维与逻辑维)和系统工程工作的问题导向性(逻辑维)的特点。2.切克兰德方_切克兰德方_的核心是“比较”与“探寻”,它强调从“理想”模式(概念模型)与现实状况的比较中,探寻改善现状的途径,使决策者满意。两种方法比较霍尔三维结构和切克兰德方_均为系统工程方_,均以问题为起点,具有相应的逻辑过程。两种方_的
3、不同点为:霍尔三维结构主要以工程系统为研究对象,而切克兰德方法更适合社会经济和经营管理等软系统问题的研究;前者的核心内容是优化分析,而后者的核心内容是比较学习。前者更多_定量分析方法,而后者比较强调定性或定性与定量有机结合的基本方法。第三章1.结构模型定义所谓结构模型,就是应用有向连接图来描述系统各要素间的关系,以表示一个作为要素集合体的系统的模型。2.邻接矩阵第四章1.建模过程中的因素分析(p59)现实事物在模型中的作用可以分为三类。可以忽略其影响的因素.对模型起作用但不属于模型描述范围的因素。模型所要分析和研究的要素或因素。第一类因素在模型中可以忽略不计;第二类因素作为制约条件来考虑;第三
4、类是描述系统结构或行为的因素,是构成系统模型的主要内容。2.系统模型的原则和步骤基本原则:现实性简洁性适应性强壮性步骤:图解法拟合法经验法机理法4.莱氏人口模型的计算(练习题)某企业根据预测前一年(t0)统计可知,该企业共有技术人员_名.其中:技术员_名,助理工程师_名,工程师(包括高级工程师)_名.现企业规定在技术员中每年有_的人数可晋开为助理工程师,有l_的人数因种种原因而调离该企业,余下的_技术员继续担任原职,在助理工程师中,每年有_晋升为工程师,_调离,而余下的_继续留任;在工程师中,每年有_留任,_调离和退休.同时,该企业每年招收大学毕业生_名以补充技术员队伍.试预测今后_年内该企业
5、技术人员的拥有量及其职称的分布情况.第五章在自然现象中,存在着作用与反作用的相互关系。一些原因与结果总是相互作用。原因引起结果,而结果又作用于形成原因的环境条件,促使原因变化,这样形成了因果关系的反馈回路。反馈回路的基本特征。粉体工程总结1、等面积球当量径与颗粒同表面积的球的直径;有助于描述粉末的成型过程及烧结过程,较适用于无气孔和轻微粗糙度表面的颗粒体系2、由不同大小的颗粒组成的集合体由不同大小的颗粒组成的集合体多分散系统3、体是研究微小颗粒的集合体。当集合体颗粒大小相等或粉体是研究微小颗粒的集合体。当集合体颗粒大小相等或近似相等单分散系统4、目。系指在筛面的_mm(1英寸)长度上开有的孔数
6、。20120目(900125um)目数/_=孔数/cm25、tem观察粉体的特点。能给出不同等效原理(如等面积圆、等效短径等)的粒度分布。能观察颗粒形貌。能直接观察颗粒分散状况、分体样品的大致粒度范围、是否存在低含量的大颗粒或小颗粒情况等等。6、频率分布曲线上的最高点是频率的极大值,表示最多数量的颗粒,其对应尺寸称为最多数径dm(或众数直径,(或众数直径,modaldiamater),其数量的多少可计算其面积。若曲线是关于dm对称,即符合正态分布(normaldistribution),此时,dm=平均粒径=dmed(中位径)mediandiameter7、累积分布曲线与频率分布曲线互为积分与
7、_的关系,若取同一横坐标,则累积分布曲线上各点斜率实际上,累积分布曲线与频率分布曲线互为积分与_的关系,若取同一横坐标,则累积分布曲线上各点斜率dr/dd,即为频率分布曲线纵坐标上相应各点之值。,即为频率分布曲线纵坐标相应各点之值。频率分布曲线上任一点的纵坐标表示某粒径频率分布曲线上任一点的纵坐标表示某粒径d为中心的颗粒在dd范围内占物料百分数为范围内占物料百分数为dr,在频率分布曲线之下,粒径为,在频率分布曲线之下,粒径为d以左所包含的面积占曲线以下所包含面积百分比即为累积百分数以左所包含的面积占曲线以下所包含面积百分比即为累积百分数r%。8、累积分布反映粒度变化不敏感,要求出斜率粒度变化,
8、斜率大,粒度变化大;但数量上反映较为明显,从纵坐标可以看出,计算方便,工业生产常用。频率分布反映频率变化,是动态(范本)变化,颗粒组成的变化,但不表示数量(各粒级数量的多少要计算面积)。研究工作中常用的方法。9、d50:一个样品的累计粒度分布百分数达到_%时所对应的粒径。它的物理意义是粒径大于它的颗粒占_%,小于它的颗粒也占_%,d50也叫中位径或中值粒径。d50常用来表示粉体的平均粒度。d97:一个样品的累计粒度分布数达到_%时所对应的粒径。它的物理意义是粒径小于它的的颗粒占_%。d97常用来表示粉体粗端的粒度指标。中位径dmed10、定量描述粒子几何形状的方法。形状指数(shapeinde
9、_)、形状系数(shapefactor)和粗糙度系数(roughnessfactorfactor)。单颗粒外形的几何量的各种无因次组合称为形状指数;形状系数在表示颗粒群性质和现象_函数关系中,把与颗粒形状有关的因数作为一个系数加以考虑;粗糙度系数反映颗粒表面微观结构11、用透射电镜可观察纳米粒子平均直径或粒径的分布,可以直接观察颗粒是否团聚,电镜观察法测量得到的是颗粒度而不是晶粒度.粗颗粒使用光学显微镜,sem较tem可观察到更多关于颗粒形状和表面结构信息,立体感强些。_射线是测定晶粒度的最好方法(当颗粒为单晶时,该法测得是颗粒度)对于混合多组分颗粒系统,由于组分密度不同,颗粒形状不同,要测量
10、颗粒的大小电镜是较好的方法。12、。_射线衍射线宽法是测定晶粒度的最好方法。当颗粒为单晶时,该法测得的是颗粒方法。当颗粒为单晶时,该法测得的是颗粒度。当颗粒为多晶时,该法测得的是组成单个颗粒的单个晶粒的平均晶粒度这种测量个颗粒的单个晶粒的平均晶粒度。这种测量法只适用于晶态的超微粉晶粒度的评估。实验表明晶粒度_时测量值与实际值验表明,晶粒度50nm时,测量值与实际值相近,反之,测量值往往小于实际值。13、透气法不受微观结构变化的影响,由颗粒大小,聚_状态决定。只反映出外表面积不受微观结构变化的影响,由颗粒大小,聚_状态决定。只反映出外表面积的大小;14、bet法颗粒的总表面积:除包括颗粒大小,聚
11、_状态外还包括了颗粒的裂纹沟槽聚_状态外,还包括了颗粒的裂纹,沟槽的内表面,因此其数值较上法大的多15、比表面积的测定范围约为_m2g,以zro2粉料为例,颗粒尺寸测定范围为lnml0m.16、ufp的制备方法:长大法或者称化学法或者造粒法,合成法通过化学反应或物相变化,从物质的原子、离子或分子入手,经过成核和成长、收集两阶段;使颗粒在控制之下长大到要求的大小,这是使颗粒尺寸由小到大的制备方法纳米粉体的制备方法碎细法或者称粉碎法、机械法这种方法是通过对粗颗粒的粉碎,使其微细化从而成ufp。这是使颗粒尺寸由大变小的方法。是制备微米级颗粒的传统粉碎法的延伸。颗粒粒径在100.1m范围,以两个数量级
12、范围内的颗粒为对象微米粉体制备18单分散颗粒系统,其粒度分布呈正态分布19振动磨制备的粉体粒度分布较窄、纯度较高物料。振动磨除粉碎效率较高外,另一个优点是物料在磨中翻动,从而使物料不易团聚20气流粉碎机亦称(高压)气流磨或喷射磨或流能磨,是常用的超细粉碎设备之一。高速气流(300_ms)或过热蒸汽(300-400)的能量,使颗粒相互产生冲击、碰撞、摩擦而实现超细粉碎的设备。降低入磨粒度,可得到平均粒径1m的产品。21、随着颗粒微细化,细小颗粒之间的吸附作用,例如范德华引力、静电力、颗粒表面的水份附着力等;或者由于断裂后在新表面上产生的剩余价键带正或负电荷的结构单元或化学游离基的作用,使小颗粒聚
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