半导体热敏电阻的电压温度曲线实验报告.pdf
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1、半导体热敏电阻的电压温度曲线实验报告半导体热敏电阻的电压温度曲线实验报告实验目的1研究热敏电阻的温度特征。2进一步掌握惠斯通电桥的原理和应用。实验仪器箱式惠斯通电桥,控温仪,热敏电阻,直流电稳压电源等。实验原理半导体资料做成的热敏电阻是对温度变化表现出特别敏感的电阻元件,它能丈量出温度的细小变化,并且体积小,工作稳固,构造简单。所以,它在测温技术、无线电技术、自动化和遥控等方面都有宽泛的应用。半导体热敏电阻的基本特征是它的温度特征,而这类特征又是与半导体资料的导电体制亲密有关的。因为半导体中的载流子数量随温度高升而按指数规律快速增添。温度越高,载流子的数量越多,导电能力越强,电阻率也就越小。所
2、以热敏电阻跟着温度的高升,它的电阻将按指数规律快速减小。实验表示,在必定温度范围内,半导体资料的电阻R T 和绝对温度 T 的关系可表示为 b T ae R=(461)此中常数 a 不单与半导体资料的性质并且与它的尺寸均有关系,而常数资料的性质有关。常数a、b 可经过实验方法测得。比如,在温度b 仅与T 1 时测得其电阻为 RT111b T ae R=(462)在温度 T 2 时测得其阻值为R T 222b T ae R=(463)将以上两式相除,消去a 得11(2121T T b T T e R R-=再取对数,有11(ln ln 2121T T R R b T T-=(4 6 4)把由此得
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