《自动控制原理》实验指导书.docx

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1、自动把握原理试验指导书刘利贤 韩兵欣 编著石家庄铁道学院电气工程分院目 录试验一、典型线性环节的模拟1试验二、二阶系统的阶跃响应5试验三、根轨迹试验7试验四、频率特性试验10试验五、把握系统设计与校正试验15试验六、把握系统设计与校正计算机仿真试验17试验七、采样把握系统试验19试验八、典型非线性环节模拟21试验九、非线性把握系统分析24试验十、非线性系统的相平面法26试验一、典型线性环节的模拟一、试验目的：1、学习典型线性环节的模拟方法。2、争论电阻、电容参数对典型线性环节阶跃响应的影响。二、试验设备：1、XMN-2 型试验箱；2、LZ2 系列函数记录仪；3、万用表。三、试验内容：1、比例环

2、节：R(s)-KC(s)pRfRi-+c(t)Rpop1r(t)4图中： KP= R fRi方块图模拟电路分别求取 R =1M，R =510K，K =0.5；ifPR =1M，R =1M，K =1；ifPR =510K，R =1M，K =2；ifP时的阶跃响应曲线。2、积分环节：R(s)-1TisC(s)CfRi-+c(t)RpOp3r(t)iif图中：T =R C方块图模拟电路分别求取 R =1M，C =1m，T =1s；ifiR =1M，C =4.7m，T =4.7s；ifiR =1M，C =10m，T =10.0s；ifi时的阶跃响应曲线。3、比例积分环节：R(s)- K (1 + -1

3、 )TisC(s)RfCfRi-+c(t)RpOp3r(t)图中： K方块图模拟电路= R f ；T =R CPRiffi分别求取 R =R =1M，C =4.7m，K =1，T =4.7s；iffPiR =R =1M，C =10m，K =1，T =10s；iffPiR =2M， R =1M，C =4.7m，K =0.5，T =4.7s；iffPi时的阶跃响应曲线。4、比例微分环节：R(s)- KT s + 1dC(s)p Ts +1fRfR1R2CRi-+c(t)RpOp3r(t)方块图模拟电路图中： K= R f+ R1 ； TR R+ R=121R + R Rf2f C ；T =R CP

4、RdiR + Rf21f分别求取 R =R =R =R =1M，C=2m，K =2，T =3.0s；if12Pdif12fPdR =2M，R =R =R =1M，C =2m，K =1，T=3.0s；R =2M， R =R =R =1M，C =4.7m，K =1，T =7.05s；if12fPd时的阶跃响应曲线。5、比例积分微分环节：CfRfR1R2CRi-+c(t)RpOp2R(s)1 + T s1C(s)- KT s1 + T sfdiPr(t)方块图模拟电路图中： K= R f + R+ R 1 + R2 C；T =(R +R)C +(R +R)C；1PRRC(i)ifif1f12T= R

5、 1 R 2+ R R1 f+ R R2 fC Cf；T =R Cd(R + R1f)C + (R + R )Cf2f12求取 R =4M，R =R=R =1M，C=C =4.7m，K=1，T =18.8s，T=3.525s时的阶跃响i应曲线。f12fPid6、一阶惯性环节：R(s)-KTs +1C(s)RfCfRi-+c(t)Rpop1r(t)图中： K方块图模拟电路= R f ；T=R CPRffi分别求取 R =R =1M，C =1m，K=1，T=1s；iffR =R =1M，C =4.7m，K=1，T=4.7s；iffR =510K，R =1M，C =4.7m，K=2，T=4.7s；i

6、ff时的阶跃响应曲线。四、试验结果记录上述试验曲线。五、试验结果分析1、对给定的电路构造和参数计算阶跃响应；2、将试验结果与计算结果比照，对试验的满足度进展分析；3、依据电路参数分析计算系统响应，与试验数据比照分析测试误差缘由；4、提高精度的方法和措施或建议；5、试验体会。六、思考题1、设计一个能满足e1+e2+e3=e 运算关系的有用加法器；2、一阶惯性环节在什么条件下可视为积分环节；在什么条件可视为比例环节？3、如何设置必要的约束条件，使比例微分环节、比例积分微分环节的参数计算工作得以简化？试验二、二阶系统的阶跃响应一、试验目的：1、学习二阶系统阶跃响应曲线的试验测试方法。2、争论二阶系统

7、的两个重要参数x、wn 对阶跃瞬态响应指标的影响。二、试验设备：1、XMN-2 型试验箱；2、LZ2 系列函数记录仪；3、万用表。三、试验内容：典型二阶系统方块图R(s)E(s)w 2C(s)-s s + 2xw(n)n其闭环传递函数典型二阶系统方块图nF(s) = C(s) =w 2R(s)s 2 + 2xwns +w 2n1wn无阻尼自然频率；x阻尼比；T= wn模拟电路时间常数c(t)CC100KRR100KR-+-R+-+RpOp1RpOp2RpOp9+-Rp100KRfr(t)运算放大器的运算功能：op1积分- 1 , T = RC ；Tsop2积分- 1 , T = RC ；Tso

8、p9反相-1；op6反相比例- K , K = R f w= 1 =Ri1rad/s；nTRCK1Rx =f22Rifn1、调整 R =40K，使 K=0.4x=0.2；取 R=1M，C=0.47m，使 T=0.47 秒w参与单位阶跃扰动 r(t)=1(t)V，记录响应曲线 c(t)，记作。=1/0.47，2、保持x=0.2 不变，阶跃扰动 r(t)=1(t)V 不变，取 R=1M，C=1.47m，使 T=1.47 秒wn=1/1.47，参与单位阶跃扰动 r(t)=1(t)V，记录响应曲线 c(t)，记作。3、保持x=0.2 不变，阶跃扰动 r(t)=1(t)V 不变，取 R=1M，C=1.0

9、m，使 T=1.0 秒wn=1/1.0，参与单位阶跃扰动 r(t)=1(t)V，记录响应曲线 c(t)，记作。4、保持wn=1/1.0 不变，阶跃扰动 r(t)=1(t)V 不变，调整 Rf=80K，使 K=0.8 秒x=0.4，记录响应曲线 c(t)，记作。5、保持wn=1/1.0 不变，阶跃扰动 r(t)=1(t)V 不变，调整 Rf=200K，使 K=2.0 秒x=1.0，记录响应曲线 c(t)，记作。四、试验结果记录上述试验曲线。五、试验结果分析1、依据电路的构造和参数计算阶跃响应；2、将试验结果与计算结果比照，对试验的满足度进展分析；3、依据电路参数分析计算系统响应，与试验数据比照分

10、析测试误差缘由；4、提高精度的方法和措施或建议；5、试验体会。六、思考题1、设计一个能满足 e1+e2+e3=e 运算关系的有用加法器；2、一阶惯性环节在什么条件下可视为积分环节；在什么条件可视为比例环节？3、如何设置必要的约束条件，使比例微分环节、比例积分微分环节的参数计算工作得以简化？试验三、根轨迹试验一、试验目的：1、把握根轨迹的意义；2、把握把握系统根轨迹的绘制方法。二、试验设备：1、计算机；2、数据采集卡；3、MATLAB 软件。三、试验内容：1、预备学问MATLAB 绘制根轨迹命令； 建立数学模型参数矩阵：numerator=b0,b1,b2,bm； denominator=a0,

11、a1,a2,an； zeropoint=z1,z2,zm；poles=p1,p2,pn；k=k；系统传递函数：system=tf(numerator, denominator)=zpk(z,p,k)； 绘制开环系统的零极点图： z,p=pzmap(system)=pzmap(numerator, denominator)=pzmap(p,z)； 绘制闭环根轨迹命令：r,k=rlocus(system)=rlocus(numerator, denominator)= rlocus(numerator, denominator,k；)确定给定一组根的根轨迹增益命令：k,poles=rlocfind

12、(system)= rlocfind(system,p)=rlocfind(numerator, denominator)； 2、依据实际物理系统建立数学模型；设数学模型为G(s) =3、转变系统参数绘制系统根轨迹； 输入系统参数：w=wn=1；b=z=0.5；w 2ns 2 + 2zwns +w 2nnn建立数学模型：numerator=w ；denominator=1,2*z*w ,1；G=tf(numerator, denominator)；则G(s)=1s 2 + s +14、绘制系统根轨迹，输入命令：rlocus(G)5、微分二阶系统的根轨迹输入系统参数：w=wn=2；b=z=0.5

13、；建立数学模型：number=2，1；den=4，5，6；G=tf(number,den)；则G(s) =2s +1 4s 2 + 5s + 6输入命令：rlocus(G) ，制系统根轨迹；6、针对作业题绘制根轨迹7、记录根轨迹图例：绘制单位反响把握系统的根轨迹。G(s) =2s +1 4s 2 + 5s + 6输入命令：a=2,1;b=4,5,6;g=tf(a,b);rlocus(g);则绘制出的根轨迹如以以下图所示。试绘制如下系统的根轨迹。k *1、 GH (s) =2、GH (s) =s(s + 4)k *3、GH (s) =s(s + 4)(s 2 + 4s + 20)k *s 2 (

14、s + 2)(s + 5)4、GH (s) = k * (s +1) 2(s + 2) 2四、试验结果记录上述试验曲线。五、试验结果分析81、依据数学模型和根轨迹绘制规章分析计算概略根轨迹，与计算机绘制的根轨迹比照，分析误差缘由；2、对试验结果的满足度进展分析；3、提高精度的方法和措施或建议；4、试验体会。六、试验结果分析1、给定物理系统对象，即可建立数学模型；2、只要有系统数学模型，即可绘制系统根轨迹；3、依据系统根轨迹可分析系统的稳定性及系统性能指标。11试验四、频率特性试验一、试验目的：1、学习频率特性的试验方测定法；2、把握依据频率响应试验结果绘制bode 图方法；3、依据试验结果所绘

15、制的Bode 图，分析系统的主要动态特性M，t 。ps二、试验设备：1、XMN-2 型自动把握原理试验箱；2、LZ3 系列函数记录仪；3、DX5 型超低频信号发生器；4、万用表。三、试验内容：典型二阶系统方块图R(s)E(s)w 2C(s)s(s + 2n-xw)n其闭环传递函数典型二阶系统方块图nF(s) = C(s) =w 2R(s)s 2 + 2xwns +w 2nnw 无阻尼自然频率；x阻尼比；T= 1w时间常数闭环频率特性G( jw) = Y ( jw)X ( jw)n1+ j2z wnw1+w 2 j wn=1 w 2 w 1- w + j2z w其中： wn= 1 rad/sTn

16、 n模拟电路图c(t)CC100KRRR-+ Op1-100KROp2+-Op9+RpRpRp+-Rp100KRfr(t)运算放大器的运算功能：op1积分- 1 , T = RC ；Tsop2积分- 1 , T = RC ；Tsop9反相-1；op6反相比例- K , K = R f Ri1w= 1 =1rad/s； x = K = R fnTRCf1、选定 R、C、Rw值，使n22Ri=1；z=0.2；2、使用 XD5 型超低频信号发生器产生正弦波输入信号 r(t)=Sinwt 稳态时其响应c(t)=Ysin(wt+j)；3、转变输入信号频率，使w=0.2，0.4，0.6，0.8，0.9，1

17、.0，1.2，1.4，1.6，2.0，3.0rad/s； 用函数记录仪测量输入 r(t)和输出 c(t)。记录曲线序号依次记作，记录曲线序号f(Hz)w(rad/s) A(w) L(w)(dB)j(w)(deg)4、依据上述表格所整理的试验数据，在半对数坐标纸上绘制bode 图，标出M ，w 。rr5、依据所绘制的bode 图分析二阶系统的主要瞬态响应指标标出M ，t 。6、转变二阶系统的wnps值或z值，重复上述步骤 3，4，5，6。四、绘制系统的频率特性在 MATLAB 环境下建立开环系统的数学模型，同系统根轨迹。在 MATLAB 环境下绘制开环系统的频率特性。1、绘制连续系统的幅相(Ny

18、quist 曲线)频率特性曲线。re,im,w=nyquist(system)= nyquist(num,den)= nyquist(system,w)= nyquist(num,den,w)绘制坐标网格线命令：grid on去除坐标网格线命令：grid off2、绘制连续系统的对数(Bode 图)频率特性曲线。mag,phrase,w=bode(system)=bode(num,den)= bode(system,w)= bode(num,den,w) 绘制对数坐标网格线命令：grid on去除坐标网格线命令：grid off3、绘制连续系统的尼柯尔斯(Nichols 图)频率特性曲线。ma

19、g,phrase,w=nichols(system)= nichols(num,den)= nichols(system,w)= nichols(num,den,w)绘制Nichols 曲线网格线命令：ngrid on4、在对数(Bode 图)频率特性曲线上求增益裕量和相位裕量。gm,pm,wcp,wcg=margin(system)= margin(num,den)= margin(mag,phrase,w) 5、结合作业题绘制系统的频率特性。7、记录系统的频率特性Nyquist 曲线，Bode 图例：绘制单位反响把握系统G(s) =2s +14s 2 + 5s + 6的开环幅相频率特性和对

20、数频率特性。输入命令： a=2,1;b=4,5,6;g=tf(a,b);nyquist(g);则绘制出的开环幅相频率特性如以以下图所示。输入命令： a=2,1;b=4,5,6;g=tf(a,b);bode(g);则绘制出的开环幅相频率特性如以以下图所示。试绘制如下系统的开环幅相频率特性和对数频率特性。k *1、 GH (s) =2、GH (s) =s(s + 4)k *3、GH (s) =s(s + 4)(s 2 + 4s + 20)k *s 2 (s + 2)(s + 5)134、GH (s) = k * (s +1) 2(s + 2) 2五、试验结果记录上述试验曲线。六、试验结果分析1、依

21、据数学模型和频率特性绘制规章绘制概略频率特性；2、与计算机绘制的频率特性比照，分析误差缘由；3、对试验结果的满足度进展分析；4、提高精度的方法和措施或建议；5、试验体会。七、思考题1、理论计算不同w值时的L(w)和j(w)，并与试验结果进展比较。2、能否依据试验所得Bode 图确定一个二阶系统的闭环传递函数。15试验五、把握系统设计与校正试验一、试验目的：1、争论校正装置对系统动态性能指标的影响；2、学习校正装置的设计和实现方法。3、把握串联校正装置的设计方法和参数调试技术。二、试验设备：1、XMN-2 型试验机；2、LZ3 系列函数记录仪；3、DX5 型超低频信号发生器；4、万用表。三、试验

22、内容：R(s)E(s)1C(s)-s(s + k )典型二阶系统方块图其开环传递函数闭环传递函数为典型二阶系统方块图G(s) =1s(s + k)w 2G(s) =ns 2 + 2zwns +w 2n在该系统中参与超前校正装置，使系统的相位裕量g(w)500，增益裕量 h10db，同时保持静态速度误差系数不变。四、试验结果分析1、对给定的被控物理系统，建立数学模型；2、对给定的被控系统数学模型，绘制频率特性；3、依据系统的频率特性可分析系统的稳定性及系统性能指标。五、思考题1、模拟电路Rfe (t)iRCiiR- op11e (t)0能否作为超前校正装置？试计算其传递函数E (s)0？E (s

23、)i2、假设G(s) = 1.5s +1 ，能否计算出校正后系统的闭环主导极点与之对应的wc0.5s +1n和z？试验六、把握系统设计与校正计算机仿真试验一、试验目的：1、争论校正装置对系统动态性能指标的影响；2、学习校正装置的设计和实现方法。3、把握串联校正装置的设计方法和参数调试技术。二、试验设备：1、计算机；2、MATLAB 软件。三、试验任务：R(s)E(s)1C(s)-s(s + k )典型二阶系统方块图其开环传递函数闭环传递函数为典型二阶系统方块图G(s) =1s(s + k)w 2串联校正的目标：G(s) =ns 2 + 2zwns +w 2n1、校正后系统的开环增益静态速度误差

24、系数k 25 1/s；vs2、调整时间过度过程时间t 1s；3、超调量Mp25%；4、记录校正前系统的响应曲线5、设计把握系统；6、求校正环节的传递函数；7、记录校正后系统的响应曲线。四、试验结果分析1、对给定物理系统，建立数学模型；2、对被控系统数学模型，绘制其频率特性；3、依据系统的频率特性分析系统的稳定性及系统性能指标；4、依据给定的性能指标，设计校正装置；5、依据校正系统模型，仿真出系统的时域响应；6、将校正前后的系统进展仿真，分析其性能指标的改善。五、思考题1、模拟电路Rfe (t)iRCiiR- op11e (t)0能否作为超前校正装置？试计算其传递函数E (s)0？E (s)i2

25、、假设G(s) = 1.5s +1 ，能否计算出校正后系统的闭环主导极点与之对应的w和z？c0.5s +1n试验七、采样把握系统试验一、试验目的：1、理解采样定理，生疏采样把握系统得特点；2、生疏用计算机仿真对采样把握系统进展争论得方法；3、生疏二阶采样把握系统得性能、稳定性、暂态响应及其与二阶连续把握系统比较。二、试验设备：1、计算机；2、MATLAB 软件。三、试验内容：在 MATLAB 得 Simulink 平台上构造传递函数仿真模型。1、在Sources 中选择信号发生器Step；2、选择典型环节传递函数，拖拽至仿真平台； 3、在Sinks 中选择示波器模型Scop；4、连接各个环节，

26、构造仿真模型；5、对系统进展仿真。四、试验步骤：1、翻开Matlab在桌面上双击MATLAB图标2、建立仿真模型：在MATLAB 环境下，翻开【file】/new/model。3、在模型model窗口，翻开模型库，即翻开【view】/library browser 4、翻开simulink/continuous 找到被控对象，拖拽到model 界面。5、在 simulink/discrete 下将零阶保持器zero-order hold拖拽到model 界面。6、在 simulink/math oprations 下将求和环节sum拖拽到model 界面。7、在 simulink/source

27、 下将阶跃信号step拖拽到model 界面。8、在 simulink/sink 下将示波器scope拖拽到model 界面。9、依据图形连接：将光标移动到相应环节的输入/或输出端，光标变为十字，拖动鼠标，连接相应环节。10、修改各环节参数：双击对应环节，弹出对话框，在对话框中修改参数。11、仿真并记录系统的响应曲线。例如典型二阶采样把握系统仿真模型为19转变采样周期 T，观看试验结果。T=0.1s 时；T=0.2s 时；T=0.4s 时；T=0.6s 时；T=0.8s 时；T=1s 时五、试验结果分析1、采样周期 T 的大小对系统的稳定性有确定响应；2、对连续二阶采样把握系统，采样周期T 越

28、大，系统的稳定性越差；3、采样周期 T 越大，系统输出越接近连续把握系统。20试验八、典型非线性环节模拟一、试验目的：1、学习运用自动把握原理学习机实现非线性环节的方法；2、分析典型非线性环节的输入输出特性。二、试验设备：1、XMN-2 自动把握原理试验箱；2、LZ-200 函数记录仪3、万用表。三、试验内容：1、死区非线性特性： 模拟电路见图 1 所示。D1D2R1100kEc+15VD3D4R2RFEe100k-15VR100k100kf-Op5y10k+y+D-Dxkx图 1图 2输入/输出特性曲线见图 2 所示；23死区非线性特征值： D = - R fREc ， - D = - R

29、f EcR21放大区斜率： k - RFRf1） 变死区非线性特征值D，使D=10V，5V，1.5V，观看并记录输入/输出特性曲线。2） 转变放大区斜率 k，观看并记录输入/输出特性曲线。2、饱和非线性特性模拟电路见图 3R2D2R1100kEc+15VR3D4R3Ee-15VRfRF100k100kx(t)100k- Op5+y(t)10kyk+s+D-Dxk-sk-图 3图 4输入/输出特性曲线见图 4 所示；RR死区非线性特征值： - s -2 Ee ， s 4 Ec放大区斜率： k -R1RFRfR/ RR3R/ R限幅区斜率： k+2F ， k4FR-Rff3、转变饱和非线性特征值s

30、，使s=9V，6V，2.25V，观看并记录输入/输出特性曲线。4、转变斜率 k，观看并记录输入/输出特性曲线。5、为使限幅区特性平坦可承受双向稳压管组成的限幅电路。模拟电路见图 5，输入/输出特性曲线见图 6。x(t)10k100kRfRF- Op510k+y+s+D-Dxk-sy(t)图 5图 6s=EwREw：稳压管的稳定电压Fk = RF RF=R+10kf四、试验结果记录五、试验结果分析1、对试验结果的满足度进展分析；2、分析误差缘由；3、提高精度的方法和措施或建议；4、试验体会。六、思考题1、比较死区非线性特征值 的计算值语实测数据，分析产生误差的缘由；2、比较饱和非线性特征值s 的

31、计算值语实测数据，分析产生误差的缘由。试验九、非线性把握系统分析一、试验目的：1、争论典型非线性环节对线性系统的影响；2、观看非线性系统的自激振荡，应用描述函数法分析非线性系统。二、试验设备：1、计算机；2、MATLAB 软件。三、试验内容：1、死区非线性特性对线性系统的影响。具有死区特性的非线性系统，传递函数见图1。y+D-Dxk图 1（1） 没有死区非线性环节时将死区特性环节接成反相器，转变 k 值，使 k=1，2，2.5，观看并记录线性系统在输入阶跃信号x 作用下，系统呈现稳定与不稳定动态过程。（2） 参与死区非线性环节，死区特征值D=5V，转变 k 值，使 k=1，2.5，观看并记录非

32、线性系统在输入阶跃信号x 作用下，系统呈现稳定与不稳定动态过程，与不加非线性环节时的线性系统进展比照分析。（3） 死区特征值D=5V，系统不稳定时k=2.5，转变阶跃信号 x 的大小，使 x=1V， 5V，观看并记录非线性系统的动态过程，分析输入信号 x 的大小对死区特性的非线性系统的影响。（4） 转变死区特征值D，记录非线性系统的动态过程。242、饱和非线性特性对线性系统的影响。具有饱和特性的非线性系统，传递函数方块图见图2。图 2（1） 没有饱和非线性环节时将饱和特性环节接成反相器，转变 k 值，使 k=0.68，1.5，2，输入阶跃信号 x，观看并记录线性系统的动态过程，推断系统稳定性。

33、（2） 参与饱和非线性环节，转变 k 值，使 k=0.68，2，输入阶跃信号 x，推断系统稳定性，当系统消灭自激振荡时，记录自激振荡的频率和幅值，并与理论计算值进展比较。（3） 饱和非线性特征值s=2.25V，系统不稳定时k=2，转变阶跃信号x 的幅度，使 x=1V，5V，记录非线性系统的动态过程，分析输入信号 x 的大小对饱和特性的非线性系统的影响。（4） 输入信号x=3V，系统不稳定时k=2，转变饱和非线性特征值 s，使 s=0.75V， 1.5V，3V，记录非线性系统的动态过程。四、试验结果记录五、试验结果分析1、对试验结果的满足度进展分析；2、分析误差缘由；3、提高精度的方法和措施或建

34、议；4、试验体会。六、思考题1、从试验曲线分析死区非线性特性对线性系统的影响。2、从试验曲线分析饱和非线性特性对线性系统的影响。3、应用描述函数法分析非线性系统，比较力气计算与试验结果，分析产生误差的缘由。4、自行设计具有滞环特性的非线性系统，试作滞环非线性对线性需要的影响的试验分析。25试验十、非线性系统的相平面法一、试验目的：1、学习用相平面法分析非线性系统。2、把握把握系统根轨迹的绘制方法。二、试验设备：1、计算机；2、数据采集卡；3、MATLAB 软件。三、试验内容：1、用相平面法分析继电非线性系统的阶跃响应和稳态误差。2、用相平面法分析带速度负反响的继电型非线性系统的阶跃响应和稳态误

35、差。3、用相平面法分析饱和型非线性系统的阶跃响应和稳态误差。四、试验任务：1、建立数学模型依据试验要求设计未加校正的继电型非线性闭环模拟系统，利用阶跃输入作为测试信号，观测并记录系统在e， e.相平面上的相轨迹，利用该相轨迹分析系统的阶跃响应和稳态误差，并与测得的系统偏差的阶跃响应进展比较。2、带速度反响的继电型非线性闭环模拟系统设计并连接一带速度负反响的继电型非线性闭环模拟系统，利用阶跃输入作为测试信号，观测并记录系统在e， e.相平面上的相轨迹，利用该相轨迹分析系统的阶跃响应和稳态误差，并与测得的系统偏差的阶跃响应进展比较。再将此试验结果与未加校正的继电型非线性闭环模拟系统相比较。263、饱和非线性闭环把握系统设计并连接一饱和型非线性闭环模拟系统，利用阶跃输入作为测试信号，观测并记录系统在e， e 相平面上的相轨迹，利用该相轨迹分析系统的阶跃响应和稳态误差，并与测得的系统偏差的阶跃响应进展比较。五、试验结果记录1、对试验结果的满足度进展分析；2、分析误差缘由；3、提高精度的方法和措施或建议；4、试验体会。六、试验结果分析1、给定物理系统对象，即可建立数学模型；2、只要有系统数学模型，即可绘制系统相轨迹；3、依据系统相轨迹可分析系统的稳定性及系统性能指标。27