电子元器件验要求与方法通信电子电子设计_通信电子-电子设计.pdf

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1、电子元器件入厂检验规程 1 目的 为本公司电子元器件类进料检验提供科学、客观的方法和依据，进而不断提高产品质量。2 适用范围 本检验规范适用于所有电子元器件原材料的检验/验收。对某些 无法用定量表明的缺陷，可用供需双方制订的检验标准和封样的办法 加以解决。3 参考文件 GB/T 17215-2002 1 级和 2 级静止式交流有功电度表。相关电子元器件技术文件和样品。4 缺陷类型 A类：严重缺陷（CRICITAL DEFE,简写CR），是指不良缺陷足 使产品失去规定的主要或全部功能，或者特别情况下可能带来安全问 题，或者为客户或市场拒绝接受的特别规定的缺点。B类：主要缺陷（MAJOR DEFE

2、CT简写MAJ）,不良缺陷足使产品 失去部分功能，或者相对严重的结构及外观异常，从而显著降低产品 的使用性能。C类：次要缺陷（MINOR DEFECT简写MIN）,不良缺陷可以造成产品部分性能偏差或一般外观缺点，虽不影响产品性能，但会使产品 价值降低的缺点 5 判定依据 取一般检验水平II,正常检验AQL A类缺陷为0,B类缺陷为，C类缺陷为。当缺陷位于产品的LOGO产品名称或图标的40mm内 时,应重新审核决定此缺陷是否达到了影响标识、产品名称或图标的 程度。在实际执行时依照检验标准的条款或参照产品的封样。6 工作程序和要求 外观缺陷的检验方法及要求 视力：具有正常视力 视力和色感。照度：室

3、内照明 800Lux（40W 日光灯）以上。目测距离：眼睛距离 15-30cm 处目视,必要时以（三倍或三倍以 上）放大照灯检验确认。ESD防护：凡接触电子元器件必需配带检测合格的静电防护措施（配带干净手套与防静电手环接上静电接地线）；检验前需先确认所使 用工作平台清洁。外观尺寸及尺寸的配合的检验方法 使用普通长度测量仪或各种量规（量具）进行测量。试装配：将电子元器件与PCB等试装位置、尺寸等应配合良好，并 且插入后不应占到别的元器件的位置。检验仪器、仪表、量具的要求 所有检验仪器、仪表、量具必须在校正计量期内。本检验规范若与其它规范文件相冲突时,依据顺序如下：本公司所提供的技术文件等提出的特

4、殊需求；本检验规范；由供应商提供的检验报告、规格书、承认书等资料；若有外观标准争议时，由质检部解释与核判是否允收。涉及功能性问题时，由技术部或质检部分析原因与责任单位，并于 验证后由质检部复判外观是否允收。7检验项目及标准 按照“电子元器件检验明细表”（见附录）以及有关进料检验的规 定对新进原材料进行检验。适用范围本检验规范适用于所有电子元器件原材料的检验验收对某些无法用定量表明的缺陷可用供需双方制订的检验标准和封样的办法加以解决参考文件级和级静止式交流有功电度表相关电子元器件技术文件和样品缺陷类型类严重拒绝受的特别规定的缺点类主要缺陷简写不良缺陷足使产品失去部分功能或者相对严重的结构及外观异

5、常从而显著降低产品的使用性能类次要缺陷简写不良缺陷可以造成产品部分性能偏差或一般外观缺点虽不影响产品性能但会使产标的内时应重新审核决定此缺陷是否达到了影响标识产品名称或图标的程度在实际执行时依照检验标准的条款或参照产品的封样工作程序和要求外观缺陷的检验方法及要求视力具有正常视力视力和色感照度室内照明日光灯以上目测对于我司目前不能检验的项目，可以验证供方提供的检验数据，也 可以委托国家检验机构进行检验。附录 电子元器件检验明细表 1 包装、标识检查（通用）序号 检验项目 标准要求 缺陷类型 检验方法 包装、标识 1、不允许包装箱内无合格证、测试记录；B 目视 2、不允许没有制造商的名称；B 3、

6、不允许没有元器件名称；B 4、不允许没有元器件型号、规格；B 5、不允许没有包装数量；B 6、不允许没有生产日期和生产批号；C 7、不允许没有制造商合格盖章；B 8 针对不同元器件的特性必须使用适当的包装方式；B 数量 1、不允许实际包装数量与标识上的数量不相同；B 一穿2、不允许实际来料数量与送检单上的数量不吻合；B 2 外观检查（通用）适用范围本检验规范适用于所有电子元器件原材料的检验验收对某些无法用定量表明的缺陷可用供需双方制订的检验标准和封样的办法加以解决参考文件级和级静止式交流有功电度表相关电子元器件技术文件和样品缺陷类型类严重拒绝受的特别规定的缺点类主要缺陷简写不良缺陷足使产品失去

7、部分功能或者相对严重的结构及外观异常从而显著降低产品的使用性能类次要缺陷简写不良缺陷可以造成产品部分性能偏差或一般外观缺点虽不影响产品性能但会使产标的内时应重新审核决定此缺陷是否达到了影响标识产品名称或图标的程度在实际执行时依照检验标准的条款或参照产品的封样工作程序和要求外观缺陷的检验方法及要求视力具有正常视力视力和色感照度室内照明日光灯以上目测序号 检验项目 标准要求 缺陷类型 检验方法 材质 不允许与文件要求不符合；A 污迹 不允许异物、油污、灰尘及其它污垢；C 1、轻微不光亮、发黑，不影响上锡功能；C 金属壳体表面、2、发黑，生锈严重，上锡困难，甚至不能上锡；B 引脚 3、影响组装；B

8、4、不影响组装；C 1、丝印错、漏；B 丝印 2、丝印模糊，至字体无法识别；B 3、字体排版错误（大小不等、次序颠倒）；B 4、丝印模糊，但字体仍可识别；C 表面、引脚颜色 不允许一批中有多种颜色；B 划伤 1、划伤深度不超过 2mm,不明显可见；C 目视 2、明显可见元器件内部材质；B 破裂 1、本体破损面积超过 2mm2，明显可见；B 2、本体有裂纹面积小于 2mm2,不明显可见；C 线头 1、线头有松散现象；B 2、堆锡超过 1mm；C 绝缘胶皮 1、破损严重，看到内部芯线；B 2、轻微破损，看不到内部芯线；B 表面保护膜 不能有脱落严重，看到内部材质；B 引岀线方向 不允许一批中有多种

9、引出线方向；B 元器件封口处 不允许封口不光滑、有缝隙严重，用手摇动引出端有松动，甚至有脱落现象；B 带金属焊接部分 不允许绝缘胶粘附于部件焊接部分，带金属部分有氧化，生 B 适用范围本检验规范适用于所有电子元器件原材料的检验验收对某些无法用定量表明的缺陷可用供需双方制订的检验标准和封样的办法加以解决参考文件级和级静止式交流有功电度表相关电子元器件技术文件和样品缺陷类型类严重拒绝受的特别规定的缺点类主要缺陷简写不良缺陷足使产品失去部分功能或者相对严重的结构及外观异常从而显著降低产品的使用性能类次要缺陷简写不良缺陷可以造成产品部分性能偏差或一般外观缺点虽不影响产品性能但会使产标的内时应重新审核决

10、定此缺陷是否达到了影响标识产品名称或图标的程度在实际执行时依照检验标准的条款或参照产品的封样工作程序和要求外观缺陷的检验方法及要求视力具有正常视力视力和色感照度室内照明日光灯以上目测 锈、压伤严重现象；极性 不允许标识与实际不符；A 变形 不允许外形变形严重；B 3 尺寸检查（通用）序号 检验项目 标准要求 缺陷类型 检验方法 尺寸 不允许重要尺寸不符合图纸、bom 要求（引脚直径、定位尺寸、本体直径、引脚长度）；A 卡尺 4 装配检查（通用）序号 检验项目 标准要求 缺陷类型 检验方法 装配 1、插不进 PCB 板、表壳、端子等；A 试装 2、插入 PCB 板、表壳、端子等困难；B 目视 5

11、 可焊性试验（通用）序号 检验项目 标准要求 缺陷类型 检验方法 无特殊技术要求，以下两种方法可选其一试验：a、用电烙铁以温度为 235C,时间为 3S 试验，锡点圆润有光泽，可焊性 稳固；A 实际操作 b、PIN 上锡不良，或完全不上锡，均不可接受；（将零件脚插入现 使用之合格松香水内，全部浸润；再插入小锡炉 5 秒钟左右后拿 恒温烙铁 起观看 PIN 是否 100%良好上锡；如果不是则拒收）；锡炉 耐焊接热 温度 240 10C,浸锡（焊接）时间 5S 后，外观、电气与机械性 能良好；A 6 电性检验 电阻 序号 检验项目 检验标准/方法 检验设备 缺陷 类型 电阻值 不允许实际测量电阻值

12、超岀偏差范围；数字万用表或 LCR 数字电桥 耐压测试仪 A 耐压 不允许实际测量耐压值超岀偏差范围；A 额定功耗 不允许实际测量功耗超岀偏差范围；A 适用范围本检验规范适用于所有电子元器件原材料的检验验收对某些无法用定量表明的缺陷可用供需双方制订的检验标准和封样的办法加以解决参考文件级和级静止式交流有功电度表相关电子元器件技术文件和样品缺陷类型类严重拒绝受的特别规定的缺点类主要缺陷简写不良缺陷足使产品失去部分功能或者相对严重的结构及外观异常从而显著降低产品的使用性能类次要缺陷简写不良缺陷可以造成产品部分性能偏差或一般外观缺点虽不影响产品性能但会使产标的内时应重新审核决定此缺陷是否达到了影响标

13、识产品名称或图标的程度在实际执行时依照检验标准的条款或参照产品的封样工作程序和要求外观缺陷的检验方法及要求视力具有正常视力视力和色感照度室内照明日光灯以上目测电容 序号 检验项目 检验标准/方法 检验设备 缺陷 类型 电容值 不允许实际测量电容值超出偏差范围；数字电容表或 LCR 数字电桥测 耐压测试仪 A 空载漏电流 不允许实际测量漏电流值超岀偏差范围；A 耐压 不允许实际测量耐压值超岀偏差范围；A 损耗角 不允许实际测量损耗角超岀偏差范围；A 电感、磁珠 序号 检验项目 检验标准/方法 检验设备 缺陷 类型 电感量 不允许实际测量电容值超出偏差范围；电容电感表或 LCR 数字电桥测 A 绕

14、组 不允许不同绕组短路，同组线圈开路；A 平衡度 不允许两组电感量平衡度不符要求；B 电压 试验电压不符合要求；A 光耦 适用范围本检验规范适用于所有电子元器件原材料的检验验收对某些无法用定量表明的缺陷可用供需双方制订的检验标准和封样的办法加以解决参考文件级和级静止式交流有功电度表相关电子元器件技术文件和样品缺陷类型类严重拒绝受的特别规定的缺点类主要缺陷简写不良缺陷足使产品失去部分功能或者相对严重的结构及外观异常从而显著降低产品的使用性能类次要缺陷简写不良缺陷可以造成产品部分性能偏差或一般外观缺点虽不影响产品性能但会使产标的内时应重新审核决定此缺陷是否达到了影响标识产品名称或图标的程度在实际执

15、行时依照检验标准的条款或参照产品的封样工作程序和要求外观缺陷的检验方法及要求视力具有正常视力视力和色感照度室内照明日光灯以上目测序号 检验项目 检验标准/方法 检验设备 缺陷 类型 光电转换 1、数字万用表检测法：下面以PC1 11光耦检测为例来说明数 字万用表检2、光电效应判断法：仍以 PC1 11 光 耦合器的检测为例，检 测电路如图 2 所示。将万用表置于 RX1k 电阻挡，两表笔分别 接在光耦的输出端 4、5 脚；然后用一节 1.5V 的电池与一只 5 0-100Q的电阻串接后，电池的正极端接 PC1 11 的 1脚,负极端碰接2脚，或者正极端碰接1脚，负极端接2脚，这时观 数字万用表

16、 指针式万用表 电池 50100 Q 电阻 适用范围本检验规范适用于所有电子元器件原材料的检验验收对某些无法用定量表明的缺陷可用供需双方制订的检验标准和封样的办法加以解决参考文件级和级静止式交流有功电度表相关电子元器件技术文件和样品缺陷类型类严重拒绝受的特别规定的缺点类主要缺陷简写不良缺陷足使产品失去部分功能或者相对严重的结构及外观异常从而显著降低产品的使用性能类次要缺陷简写不良缺陷可以造成产品部分性能偏差或一般外观缺点虽不影响产品性能但会使产标的内时应重新审核决定此缺陷是否达到了影响标识产品名称或图标的程度在实际执行时依照检验标准的条款或参照产品的封样工作程序和要求外观缺陷的检验方法及要求视

17、力具有正常视力视力和色感照度室内照明日光灯以上目测察接在输岀端 万用表的指针偏转情况。如果指针摆动，说明光耦 是好的，如果不摆动，则说明光耦已损坏。万用表指针摆动偏转 角度越大，表明光电转换灵敏度越高。序号 检验项目 检验标准/方法 检验设备 缺陷 类型 电压 检验变压器的各次级空载、负载电压是否与技术文件要求一致；耐压测试仪 数字万用表 DC 稳压电源 A 耐压 用耐压测试仪给变压器进行各项耐压测试（耐压测试仪的测试时 间设为5S,最大漏电流设为 1mA）,若耐压测试仪显示“PASS 则 所测变压器抗电强度合格；A 通断 不允许线圈开路、短路、无电压输岀；A 电压互感器 序号 检验项目 检验

18、标准/方法 检验设备 缺陷 类型 耐压 用耐压测试仪给电压互感器的“初级与次级”间加 2KV、50HZ 的 交流电压进行耐压测试（耐压测试仪的测试时间设为 5S,最大漏 电流设为 1mA），若耐压测试仪显示“PASS 则所测电压互感器抗 电强度合格，照此再对初级一铁壳间作的耐压测试；耐压测试仪 数字万用表 A 通断 用万用表欧姆档测量初次级各导线是否有断开或短路；A 电流互感器 序号 检验项目 检验标准/方法 检验设备 缺陷 类型 耐压 用耐压测试仪给电流互感器的“初级与次级”间加 3KV、50HZ 的 交流电压进行耐压测试（耐压测试仪的测试时间设为 60S,最大漏 电流设为 1mA），若耐压

19、测试仪显示“PASS 则所测电流互感器抗 电强度合格；耐压测试仪 数字万用表 A 通断 用万用表欧姆档测量次级两根导线是否有断开或短路现象 A 绕组 检测一次绕组与二次绕组之间的绝缘电阻，要求 1000M Q（DC=500V）A 发光二极管 序号 检验项目 检验标准/方法 检验设备 缺陷 类型 适用范围本检验规范适用于所有电子元器件原材料的检验验收对某些无法用定量表明的缺陷可用供需双方制订的检验标准和封样的办法加以解决参考文件级和级静止式交流有功电度表相关电子元器件技术文件和样品缺陷类型类严重拒绝受的特别规定的缺点类主要缺陷简写不良缺陷足使产品失去部分功能或者相对严重的结构及外观异常从而显著降

20、低产品的使用性能类次要缺陷简写不良缺陷可以造成产品部分性能偏差或一般外观缺点虽不影响产品性能但会使产标的内时应重新审核决定此缺陷是否达到了影响标识产品名称或图标的程度在实际执行时依照检验标准的条款或参照产品的封样工作程序和要求外观缺陷的检验方法及要求视力具有正常视力视力和色感照度室内照明日光灯以上目测 发光特性 选择数字万用表的二极管档，正向测量，LED 需发岀与要求相符的 颜色的光，而反向测量不发光；否则该二极管不合格。注：有标记的一端为负极。数字万用表 A 二极管 序号 检验项目 检验标准/方法 检验设备 缺陷 类型 正向压降 选择数字万用表的二极管档，正向测量，读数需小于 1,而反向测

21、量读数需无穷大；否则该二极管不合格。注：有颜色标记的一端为负极。数字万用表 A 三极管 序号 检验项目 检验标准/方法 检验设备 缺陷 类型 特性 a.先选量程：R*100 或 R*1K 档位；b.测量 PNP 型半导体三极管的发射极和集电极的正向电阻值：红表 笔接基极，黑表笔接发射极，所测得阻值为发射极正向电阻值，若将 黑表笔接集电极（红表笔不动），所测得阻值便是集电极的正向电阻 值,正向电阻值愈小愈好；c.测量PNP 型半导体三极管的发射极和集电极的反向电阻值：将黑 表笔接基极，红表笔分别接发射极与集电极，所测得阻值分别为发 射极和集电极的反向电阻，反向电阻愈小愈好；d.测量 NPN 型半

22、导体三极管的发射极和集电极的正向电阻值的方 法和测万用表 A 稳压芯片 序号 检验项目 检验标准/方法 检验设备 缺陷 类型 稳压值 稳压值符合技术要求；DC 稳压电源 A 晶振 序号 检验项目 检验标准/方法 检验设备 缺陷 类型 特性 无特殊技术要求，以下两种方法可选其一试验：a.测量电阻方法：用万用表 RX10K 档测量石英晶体振荡器的正，反向电阻值，正常时应为无穷大。若测得石英晶体振荡器有一定 的阻值或为零，则说明该石英晶体振荡器已漏电或击穿损坏；b.动态测量方法：用是波器在电路工作时测量它的实际振荡频是否 符合该晶体的额定振荡频率；如果是，说明该晶振是正常的，如口 果该晶体的额定振荡

23、频率偏低，偏高或根本不起振，表明该晶振 已漏电或击穿损坏；万用表 示波器 A 继电器 序号 检验项目 检验标准/方法 检验设备 缺陷 类型 适用范围本检验规范适用于所有电子元器件原材料的检验验收对某些无法用定量表明的缺陷可用供需双方制订的检验标准和封样的办法加以解决参考文件级和级静止式交流有功电度表相关电子元器件技术文件和样品缺陷类型类严重拒绝受的特别规定的缺点类主要缺陷简写不良缺陷足使产品失去部分功能或者相对严重的结构及外观异常从而显著降低产品的使用性能类次要缺陷简写不良缺陷可以造成产品部分性能偏差或一般外观缺点虽不影响产品性能但会使产标的内时应重新审核决定此缺陷是否达到了影响标识产品名称或

24、图标的程度在实际执行时依照检验标准的条款或参照产品的封样工作程序和要求外观缺陷的检验方法及要求视力具有正常视力视力和色感照度室内照明日光灯以上目测DC 稳压电源 数字万用表 检测继电器按下图所示接好稳压电源、万用表、继电器，万用表 接电流档 100mA 范围。将继电器线圈、电流表串入电路，注意电 流表的正、负极不要接错。接好后稳压电源通电，并逐渐增加电 压数值，直到听见衔铁发岀“咔”的一声，磁铁已将衔铁吸住，拿开万用表表笔，衔铁分开，表明继电器良好；电池 序号 检验项目 检验标准/方法 检验设备 缺陷 类型 空载电压 空载电压符合技术要求；万用表 A 液晶 序号 检验项目 检验标准/方法 检验

25、设备 缺陷 类型 显示功能 正常进入界面，显示无异常条纹，背光良好，无明显色差；测试工装、目测 A 可控硅 序号 检验项目 检验标准/方法 检验设备 缺陷 类型 单向 可控硅检测 万用表选电阻 R*1Q 挡，用红、黑两表笔分别测任意两引脚间正反 向电阻直至找岀读数为数十欧姆的一对引脚，此时黑表笔的引脚 为控制极 G,红表笔的引 脚为阴极 K,另一空脚为阳极 A。此时 将黑表笔接已判断了的阳极 A，红表笔仍接阴极 K。此时万用表指 针应不动。用短线瞬间短接阳极 A 和控制极 G,此时万用表 电阻 挡指针应向右偏转，阻值读数为 10欧姆左右。如阳极 A 接黑表笔，阴极 K 接红表笔时，万用表指针发

26、生偏转，说明该单向可控硅已 击穿损坏。万用表 短接线 A 双向 可控硅检测 用万用表电阻 R*1Q 挡，用红、黑两表笔分别测任意两引脚间正反 向电阻，结果其中两组读数为无穷大。若一组为数十欧姆时，该 组红、黑表所接的两引脚为第一阳极 A1 和控制极 G,另一空脚即 为第二阳极 A2。确定 A1、G 极后，再仔细测量 A1、G 极间正、反 向电阻，读数相对较小的那次测量的黑表笔所接的引脚为第一阳 极 A1,红表笔所接引脚为控制极 G。将黑表笔接已确定的第二阳 极 A2,红表笔接第一阳极 A1,此时万用表指针不应发生偏转，阻 值为无穷大。再用短接线将 A2、G 极瞬间短接，给 G 极加上正向 触发

27、电压，A2、A1 间阻值约 10 欧姆左右。随后断开 A2、G 间短接 万用表 短接线 电池 A 适用范围本检验规范适用于所有电子元器件原材料的检验验收对某些无法用定量表明的缺陷可用供需双方制订的检验标准和封样的办法加以解决参考文件级和级静止式交流有功电度表相关电子元器件技术文件和样品缺陷类型类严重拒绝受的特别规定的缺点类主要缺陷简写不良缺陷足使产品失去部分功能或者相对严重的结构及外观异常从而显著降低产品的使用性能类次要缺陷简写不良缺陷可以造成产品部分性能偏差或一般外观缺点虽不影响产品性能但会使产标的内时应重新审核决定此缺陷是否达到了影响标识产品名称或图标的程度在实际执行时依照检验标准的条款或

28、参照产品的封样工作程序和要求外观缺陷的检验方法及要求视力具有正常视力视力和色感照度室内照明日光灯以上目测 线，万用表读数应保持 10 欧姆左右。互换 红、黑表笔接线，红表 笔接第二阳极 A2,黑表笔接第一阳极 A1。同样万用表指针应不发 生偏转，阻值为无穷大。用短接线将 A2、G 极间再次瞬间短接，给 G 极 加上负的触发电压，A1、A2 间的阻值也是 10 欧姆左右。随后断开 A2、G 极间短接线，万用表读数应不变，保持在 10 欧姆 左右。符合以上规律，说明被测双向可控硅未损坏且三个引脚极 性判断正确。检测较大功率可控硅时，需要在万用表黑笔中串接一节干电池，以提高触发电压。按键 序号 检验

29、项目 检验标准/方法 检验设备 缺陷 类型 导通性 用万用表测量接点通/断状态与开关切换相符合；数字万用表 A 手感 切换片应无切换不顺无法切换之现象及手感受不良等现象；实际操作 B 通讯模块、射频连接线、天线 序号 检验项目 检验标准/方法 检验设备 缺陷 类型 通讯 模块、射频连接线、天线装到配变/负控/集中器终端，测试能否连 接主站；配变/负控/集中 器终端 A USB 头、卡座 序号 检验项目 检验标准/方法 检验设备 缺陷 类型 导通性 量测各脚通，断接点导电性能必须良好；数字万用表 A 排针、排线、接插件类 序号 检验项目 检验标准/方法 检验设备 缺陷 类型 导通性 量测各脚通，

30、断接点导电性能必须良好；数字万用表 A 安装 针脚不能与标准 PCB 顺利安装；针脚露岀机板长度的标准为范围内；安装 数显卡尺 B 线材 适用范围本检验规范适用于所有电子元器件原材料的检验验收对某些无法用定量表明的缺陷可用供需双方制订的检验标准和封样的办法加以解决参考文件级和级静止式交流有功电度表相关电子元器件技术文件和样品缺陷类型类严重拒绝受的特别规定的缺点类主要缺陷简写不良缺陷足使产品失去部分功能或者相对严重的结构及外观异常从而显著降低产品的使用性能类次要缺陷简写不良缺陷可以造成产品部分性能偏差或一般外观缺点虽不影响产品性能但会使产标的内时应重新审核决定此缺陷是否达到了影响标识产品名称或图

31、标的程度在实际执行时依照检验标准的条款或参照产品的封样工作程序和要求外观缺陷的检验方法及要求视力具有正常视力视力和色感照度室内照明日光灯以上目测序号 检验项目 检验标准/方法 检验设备 缺陷 类型 导通性 导电性良好，无短路现象；万用表 A 线径 线径符合“中国、国际电工委员会、线规对照表”；卡尺 B 线损率 线损率符合技术要求；A 7 辅料检验 说明书 序号 检验项目 检验标准/方法 检验设备 缺陷 类型 纸质 符合设计要求；对比目测 B 纸张厚度 符合设计要求；对比目测 B 印刷文字 印刷文字正确、清晰，字体、大小、位置应符合设计要求，文字 无缺笔断画，无变形字；对比目测 B 印刷颜色 封

32、面和书页的颜色及墨色符合样板或规定色号；对比目测 B 书页与书贴 1、书帖平服整齐，无明显八字皱折、死折、折角、残页和脏迹；目测 B 2、书帖页码和版面顺序正确，以面码中心为准，相连两页之间页 码位置允许误差 w，全书页码位置允许误差 w，画面接版允许误差；游标卡尺，直尺 B 3、书帖的划口排列正确，划透，均在折缝线上；目测 B 成品裁切 成品裁切歪斜误差 w,裁切后无严重刀花，无连刀页，无严重破 头；游标卡尺，直尺 B 成品外观 成品外观整洁，无压痕，无污迹；目测 C 标签贴纸 序号 检验项目 检验标准/方法 检验设备 缺陷 类型 标签材料 符合设计要求；对比目测 B 标签厚度 符合设计要求

33、；对比目测 B 覆膜材料 符合设计要求；对比目测 B 覆膜厚度 符合设计要求；对比目测 B 适用范围本检验规范适用于所有电子元器件原材料的检验验收对某些无法用定量表明的缺陷可用供需双方制订的检验标准和封样的办法加以解决参考文件级和级静止式交流有功电度表相关电子元器件技术文件和样品缺陷类型类严重拒绝受的特别规定的缺点类主要缺陷简写不良缺陷足使产品失去部分功能或者相对严重的结构及外观异常从而显著降低产品的使用性能类次要缺陷简写不良缺陷可以造成产品部分性能偏差或一般外观缺点虽不影响产品性能但会使产标的内时应重新审核决定此缺陷是否达到了影响标识产品名称或图标的程度在实际执行时依照检验标准的条款或参照产

34、品的封样工作程序和要求外观缺陷的检验方法及要求视力具有正常视力视力和色感照度室内照明日光灯以上目测 标签胶材料 符合设计要求；对比目测 B 印刷油墨 符合设计要求；对比目测 B 胶的粘性 将标签粘在测试工装上，各位置都与板壳粘接良好，无翘起；目测 B 各部分尺寸 符合设计要求（外型尺寸，边框的位置及尺寸）；对比标准样 B 印刷文字 印刷文字正确，字体、大小、位置与设计样板或图纸一致；对比目测 A 印刷颜色 印刷部分颜色符合设计样板或规定色号；对比目测 A 平整、清洁度 不允许有折痕、滴墨、墨迹不均、污迹、油迹、毛边、上翘、翘边、杂质、拱起等不良现象；目测 B 划伤 允许有直径不大于 mm，长度

35、不大于 5mm 的划伤 2 条；对比限样 B 气泡 允许有直径不大于 mm 的气泡 3 个；对比限样 B 包装 包装完整，整齐，无破损，保证产品完好；目测 B 铭牌、面板 序号 检验项目 检验标准/方法 检验设备 缺陷 类型 板膜材料 符合设计要求；对比目测 B 板膜厚度 符合设计要求；对比目测 B 各部分尺寸 符合设计要求（外型尺寸，胶边的宽度，手写框的尺寸、宽度，灯 孔的位置及尺寸）；对比标准样 B 不干胶 材料 符合设计要求；对比目测 B 不干胶 粘性 将板膜粘在工装上，使粘板膜的平面朝下，悬空一分钟，板膜不 从工装上掉下，且粘贴良好；目测 B 印刷文字 印刷文字正确，字体、大小、位置与

36、设计样板或图纸一致，条形 码扫描良好；对比目测 条码扫描仪 A 适用范围本检验规范适用于所有电子元器件原材料的检验验收对某些无法用定量表明的缺陷可用供需双方制订的检验标准和封样的办法加以解决参考文件级和级静止式交流有功电度表相关电子元器件技术文件和样品缺陷类型类严重拒绝受的特别规定的缺点类主要缺陷简写不良缺陷足使产品失去部分功能或者相对严重的结构及外观异常从而显著降低产品的使用性能类次要缺陷简写不良缺陷可以造成产品部分性能偏差或一般外观缺点虽不影响产品性能但会使产标的内时应重新审核决定此缺陷是否达到了影响标识产品名称或图标的程度在实际执行时依照检验标准的条款或参照产品的封样工作程序和要求外观缺

37、陷的检验方法及要求视力具有正常视力视力和色感照度室内照明日光灯以上目测 印刷颜色 印刷部分颜色符合设计样板或规定色号；对比目测 B 平整、清 洁度 不允许有折痕、划伤、滴墨、污迹、油迹、气丝、气泡、上翘、拱起等不良现象；目测 B 耐高温 100mm 范围内不直度、不平度小于 2mm;在 60 C 下放置 5h,然 后恢复到常温(20 C-30 C)放置 5 小时，其中不可出现变形、变 色；高温试验箱 目测 A 纸箱 序号 检验项目 检验标准/方法 检验设备 缺陷 类型 纸箱材料 符合设计要求；对比目测 B 纸箱厚度 符合设计要求；对比目测 B 各部分尺寸 符合设计要求(外型尺寸，手写框的尺寸，

38、窗孔的位置及尺寸)；对比标准样 B 印刷文字 印刷文字正确，字体、大小、位置与设计样板或图纸一致；对比目测 B 印刷颜色 印刷部分颜色符合设计样板或规定色号；对比目测 B 平整、清 洁度 不允许有折痕、划伤、滴墨、污迹、油迹、上翘、拱起等不良 现象；目测 B 试装 符合设计要求 实际操作 A 适用范围本检验规范适用于所有电子元器件原材料的检验验收对某些无法用定量表明的缺陷可用供需双方制订的检验标准和封样的办法加以解决参考文件级和级静止式交流有功电度表相关电子元器件技术文件和样品缺陷类型类严重拒绝受的特别规定的缺点类主要缺陷简写不良缺陷足使产品失去部分功能或者相对严重的结构及外观异常从而显著降低产品的使用性能类次要缺陷简写不良缺陷可以造成产品部分性能偏差或一般外观缺点虽不影响产品性能但会使产标的内时应重新审核决定此缺陷是否达到了影响标识产品名称或图标的程度在实际执行时依照检验标准的条款或参照产品的封样工作程序和要求外观缺陷的检验方法及要求视力具有正常视力视力和色感照度室内照明日光灯以上目测