DB44_T 1654-2015 纳米技术-粉末状纳米颗粒的特性和测量.docx
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1、ICS.07.030A43备案号:49838-2016DB44广东省地方标准DB44/T16542015纳米技术-粉末状纳米颗粒的特性和测量2015-09-07发布2015-12-07实施广东省质量技术监督局发布DB44/T16542015前言本标准等同采用ISO/TS17200-2013(E)纳米技术粉末状纳米颗粒特性和测量(英文版)。本标准按GB/T1.12009和GB/T20000.22009给出的规则起草。请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。本标准由广东省质量技术监督局提出并归口。本标准起草单位:华南师范大学、广州计量检测技术研究院、中山大学。
2、本标准主要起草人:邢晓波、王海燕、陈岚、李海英、任冬梅。本标准首次发布。DB44/T16542015纳米技术粉末状纳米颗粒的特性和测量1范围本标准规定了纳米颗粒的基本特性(化学成分、比表面积、结构、尺寸等)和测试方法。本标准适用于粉末状纳米颗粒。本标准不涉及粉末状纳米颗粒的相关应用及健康、安全、环境等问题。2规范性引用文件下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。GB/T19619-2004纳米材料术语GB/T21649.1-2008粒度分析图像分析法第1部分:静态图像分析法(IS
3、O13322-1,MOD)ISO2859SamplingproceduresforinspectionbyattributesISO9277:2010DeterminationofthespecificsurfaceareaofsolidsbygasadsorptionBETmethodISO14488ParticulatematerialsSamplingandsamplesplittingforthedeterminationofparticulatepropertiesISO14887SamplepreparationDispersingproceduresforpowdersinliq
4、uidsISO18757:2003Fineceramics(advancedceramics,advancedtechnicalceramics)DeterminationofspecificsurfaceareaofceramicpowdersbygasadsorptionusingtheBETmethodISO/TS27687NanotechnologiesTerminologyanddefinitionsfornano-objectsNanoparticle,nanofibreandnanoplateEN13925-1:2003Non-destructivetestingX-raydif
5、fractionfrompolycrystalliteandamorphousmaterialsPart1:GeneralprinciplesJISK0131:1996GeneralrulesforX-raydiffractometricanalysis3术语和定义ISO/TS27687界定的以及下列术语和定义适用于本文件。3.1透射电子显微术transmissionelectronmicroscopy,TEM以透射电子为成像信号,通过电子光学系统的放大成像观察样品的微观组织和形貌的分析技术。GB/T19619-2004,定义3.6.33.2X射线衍射法X-raydiffractometry,
6、XRD根据物质的X-射线衍射图谱特征,对其物相和结构等进行测定的分析方法。GB/T19619-2004,定义3.6.51编号特性单位测量方法1化学成分(质量百分比)g/g详见6.22比表面积2m/gBET法3晶体结构组成(摩尔百分比)mol/molXRD法4平均晶粒大小nmXRD(谢乐公式)法5初级粒子大小的平均和标准偏差nmTEM法DB44/T165420153.3比表面积specificsurfacearea样品的绝对表面积与样品质量的比值。ISO9277:2010,定义3.11注:本标准中,绝对表面积是利用BET法测量吸附气体量计算而来。3.4Feret直径Feretdiameter与颗
7、粒图像轮廓两边相切的平行线之间的距离。GB/T21649.1-2008,定义3.1.64基本特性表1给出了粉末纳米颗粒的基本特性、测量单位及测量方法。对结晶型粉末状纳米颗粒,可测量特性1、2、3和4,如有需要,也可测量特性5。对非晶型粉末状纳米颗粒,可测量特性1、2和5。测量方法详见第6章。测量结果的报告应按第7章的规定进行。表1基本特性、测量单位及测量方法5样品的准备测定用样品取样及其样品分离程序按ISO14488的方法操作。所选样品应能代表粉末状纳米颗粒本体的特性。应充分考虑取样过程对测量结果的影响。实际测量中,可针对这些影响进行校正。例如,机械力可分散聚集物,从而改变尺寸大小及其分布,同
8、时也会诱发晶体形变,以致利用XRD法测量平均晶粒大小时引入偏差。注1:样品的处理和保存应按送样方提供的方法操作。关于取样过程的详细资料见ISO2859。注2:某些测量过程、样品准备以及预处理过程可能会严重影响样品特性,这些影响比测量方法本身对结果的影响更大。因此设计测试程序时需要更加谨慎。例如,在进行TEM分析前要对样品进行分散处理,该过程对比表面积的测量影响巨大。此外,有些为某种测试方法制备的样品可用于其他的测试。例如,使用XRD方法测量晶体结构制备的样品也可用于测量平均晶粒大小。6测量方法6.1基本要求2DB44/T16542015所有测量过程应保持计量学的可溯源性。经过表面修饰(包括表面
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