《x射线衍射分析》课件2.pptx
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1、X射线衍射分析 制作人:制作者PPT时间:2024年X月目录第第1 1章章 简介简介第第2 2章章XX射线衍射实验射线衍射实验第第3 3章章XX射线衍射图的解析射线衍射图的解析第第4 4章章XX射线衍射技术的应用射线衍射技术的应用第第5 5章章XX射线衍射技术的新发展射线衍射技术的新发展第第6 6章章 总结总结 0101第1章 简介 课程介绍为学习者介绍X射线衍射的基本原理和应用本课程的目的和意义通过理论讲解和实验操作,让学习者全面掌握X射线衍射技术课程的学习内容和方法通过作业、考试等方式,评估学习者的掌握程度课程的考核方式和评价标准由威廉康拉德伦琴发现,具有高能量和穿透力X射线的发现0103
2、02具有波动特性、能量特性和衍射特性X射线的基本特性X射线衍射的原理和特点X射线通过晶体时,被晶体中的原子排列吸收和散射,形成衍射图案。根据晶体中原子的排列方式,可确定晶体的结构。X射线衍射具有高分辨率、无损分析等特点。阳极阳极接收电子流接收电子流发射发射X X射线射线高温金属高温金属使用钨、铂、钯等材料使用钨、铂、钯等材料冷却系统冷却系统防止过热防止过热延长使用寿命延长使用寿命使用油冷、水冷等方法使用油冷、水冷等方法控制系统控制系统控制电压、电流等参数控制电压、电流等参数保证保证X X射线输出稳定射线输出稳定实现自动化控制实现自动化控制X射线管的结构和特点阴极阴极激发电子激发电子产生电子流产
3、生电子流热释放热释放直流或脉冲供电直流或脉冲供电样品台和探测器样品台和探测器的构成和作用的构成和作用样品台是放置待测试样品的平台,可以自动、手动移样品台是放置待测试样品的平台,可以自动、手动移动样品。探测器由闪烁晶体和光电倍增管组成,用于动样品。探测器由闪烁晶体和光电倍增管组成,用于接收和转化接收和转化X X射线衍射信号,输出电压信号。射线衍射信号,输出电压信号。X射线衍射实验的步骤和过程选择合适的样品、研磨、烘烤等处理样品制备放置到样品台上,调整样品位置样品放置选择合适的电流、电压,调整X射线的输出X射线管调整调整探测器到合适的角度和位置探测器调整X X射线衍射谱的射线衍射谱的分析方法分析方
4、法X X射线衍射谱通常分为单色线和连续谱两种,单色线对射线衍射谱通常分为单色线和连续谱两种,单色线对应于特定的晶体结构,连续谱则反映了应于特定的晶体结构,连续谱则反映了X X射线的能量分射线的能量分布。通过对衍射谱的分析,可以确定晶体的结构、晶布。通过对衍射谱的分析,可以确定晶体的结构、晶格参数等信息。格参数等信息。具有相同的晶面间距和晶面夹角的晶面等同面的概念010302晶胞的基本参数,包括晶胞长度和角度晶格常数的概念有有机机材材料料的的结结构构分分析析有机分子的结构分析有机分子的结构分析生物大分子的结构分析生物大分子的结构分析药物的结构分析药物的结构分析材料的性能表征材料的性能表征热力学性
5、质热力学性质光学性质光学性质电学性质电学性质其他领域的应用其他领域的应用材料科学材料科学化学化学生物学生物学地球科学地球科学电子学电子学结构分析的实例和应用无无机机材材料料的的结结构构分分析析金属单质的结构分析金属单质的结构分析无机化合物的结构分析无机化合物的结构分析催化剂的结构分析催化剂的结构分析 0202第2章 X射线衍射实验 样品的制备和处理不同类型样品的准备和制备方法样品的处理和保护方法样品的纯度和结晶度的要求样品的放置和对齐样品在样品台上的位置和方向样品的对齐方法和步骤样品的旋转和移动控制X射线衍射图的测量和记录X射线衍射图的测量仪器和方法衍射峰的测量和记录衍射图的绘制和解析X射线衍
6、射实验的误差和分析实验误差的来源和分类X射线衍射实验误差的分析实验结果的可靠性和确定性样品制备和处理样品制备和处理在进行在进行X X射线衍射实验前,需要对样品进行制备和处理。射线衍射实验前,需要对样品进行制备和处理。不同类型的样品需要不同的制备方法。在样品制备过不同类型的样品需要不同的制备方法。在样品制备过程中,需要注意样品的纯度和结晶度,同时还需要采程中,需要注意样品的纯度和结晶度,同时还需要采用合适的处理和保护方法,以保证实验结果的准确性。用合适的处理和保护方法,以保证实验结果的准确性。样品在样品台上的位置和方向0103样品的旋转和移动控制02样品的对齐方法和步骤X射线衍射图的测量和记录X
7、射线衍射图是进行X射线衍射实验的重要结果之一。在测量和记录X射线衍射图时,需要使用专门的测量仪器和方法,同时需要对衍射峰进行测量和记录。在绘制和解析衍射图时,需要对每个衍射峰进行分析,以确定样品的晶体结构和信息。误差的分类误差的分类绝对误差绝对误差相对误差相对误差随机误差随机误差系统误差系统误差误差分析误差分析误差的大小与实验结果的可靠误差的大小与实验结果的可靠性和确定性的关系性和确定性的关系误差的来源和分类对实验结果误差的来源和分类对实验结果的影响的影响误差的分析方法和步骤误差的分析方法和步骤实实验验结结果果的的可可靠靠性性和和确定性确定性实验结果的误差范围和置信度实验结果的误差范围和置信度
8、的计算的计算实验结果的可靠性和确定性评实验结果的可靠性和确定性评价标准价标准实验结果的误差分析与结果的实验结果的误差分析与结果的可靠性和确定性的关系可靠性和确定性的关系实验误差和分析实验误差的来源实验误差的来源测量误差测量误差系统误差系统误差环境误差环境误差人为误差人为误差 0303第3章 X射线衍射图的解析 波长和角度的测量和计算布拉格衍射定律和实验条件波长的测量方法和计算公式刻度盘和衍射仪的使用衍射角的测量方法和计算公式晶体结构和X射线衍射图的关系晶格常数的计算方法和应用衍射峰的定位和分析寻找峰位和计算衍射角衍射峰的定位方法和步骤高斯峰和洛伦兹峰的特点及其分析峰形的分析和识别晶体缺陷、晶体
9、形态和衍射仪性能的影响峰宽和峰形因素的影响和解析结构分析的方法和步骤影响结构分析的因素和选择合适的方法结构分析的基本原理和方法Ewald球和结构因子的计算倍半式法和相似式法的应用晶体和非晶体材料的结构分析结构分析实例的讲解和讨论结构分析实例的讲解和讨论钙钛矿的物理和化学性质以及应用钙钛矿结构的分析和应用岩石中常见矿物的结构分析岩石中矿物的分析和应用生物分子的结构和功能研究生物分子结构的分析和应用空位和杂质原子点缺陷0103晶界和堆垛错面缺陷02位错和孪晶线缺陷布拉格衍射定律布拉格衍射定律的描述的描述布拉格衍射定律是布拉格衍射定律是X X射线衍射分析的基石,它描述了晶射线衍射分析的基石,它描述了
10、晶体对入射体对入射X X射线的衍射现象。当射线的衍射现象。当X X射线在晶体表面上被射线在晶体表面上被散射时,散射波与入射波形成出相干的波前。这个波散射时,散射波与入射波形成出相干的波前。这个波前在晶体内部遇到原子的平面时,会发生衍射,产生前在晶体内部遇到原子的平面时,会发生衍射,产生强度不为零的衍射线。强度不为零的衍射线。衍射面的解析衍射面的解析晶体的晶面和晶系晶体的晶面和晶系衍射面的指定和图解法衍射面的指定和图解法晶体结构的分析晶体结构的分析结构因子和布拉格公式结构因子和布拉格公式结构分析方法和常见误差结构分析方法和常见误差晶体缺陷的分析晶体缺陷的分析点缺陷和线缺陷点缺陷和线缺陷面缺陷和晶
11、体缺陷的影响面缺陷和晶体缺陷的影响晶体衍射图的解析角度和强度角度和强度衍射角的测量方法和计算公式衍射角的测量方法和计算公式衍射峰的强度和衍射面的排列衍射峰的强度和衍射面的排列方式方式晶体结构和晶体衍射图的关系晶体结构可以通过晶体衍射图来确定,晶体衍射图是由晶体的结构和X射线衍射现象共同决定的。晶体结构的特点决定了衍射图中衍射线的位置和强度,而衍射图中的信息可以反推晶体的结构。因此,X射线衍射分析是晶体学的重要工具之一。0404第4章 X射线衍射技术的应用 材料的物相分析包括理解材料的结构、性质和性能等材料物相的定义和意义用于确定材料的晶体结构、晶粒尺寸和相对含量等X射线衍射技术在材料分析中的应
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