《SEM原理学习报告》课件.pptx
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1、SEM原理学习报告 创作者:XX时间:2024年X月目录第第1 1章章 简介简介第第2 2章章SEMSEM样品制备技术样品制备技术第第3 3章章SEMSEM分析方法和技术分析方法和技术第第4 4章章SEMSEM应用领域应用领域第第5 5章章SEMSEM技术未来发展趋势技术未来发展趋势第第6 6章章 总结总结 0101第1章 简介 SEM原理概述扫描电子显微镜(SEM)是一种以电子束为探针来观察样品的技术。SEM主要通过扫描电子束在样品表面产生的反射电子和次级电子来获得样品形貌和构造信息,对于形貌鲜明、构造复杂的样品,SEM有明显的优势。SEMSEM图像形成图像形成原理原理SEMSEM图像的形成
2、涉及电子和样品之间的相互作用。当电子束照射图像的形成涉及电子和样品之间的相互作用。当电子束照射到样品表面时,它们与样品原子相互作用,产生多种反应,导致到样品表面时,它们与样品原子相互作用,产生多种反应,导致样品表面电荷分布的变化。这些变化会引起反射电子和次级电子样品表面电荷分布的变化。这些变化会引起反射电子和次级电子的产生,这些电子被的产生,这些电子被SEMSEM探测系统捕获并被转化为图像。探测系统捕获并被转化为图像。1965年,Ernst Ruska发明了电子透镜,为SEM的发展打下了基础SEM技术起源0103材料科学、生物医学、纳米技术、信息技术等SEM技术的应用领域02随着电子和计算机技
3、术的发展,SEM逐渐成为现代材料科学研究的重要工具SEM技术的发展SEM分辨率与灵敏度SEM的分辨率比光学显微镜高很多,可以达到亚纳米级别SEM分辨率SEM灵敏度高,可以检测到极少的信号SEM灵敏度常用的SEM探测器有二次电子探测器(SE)和反射电子探测器(BSE)SEM探测器SEMSEM成像系统成像系统扫描控制器扫描控制器图像显示器图像显示器信号放大器信号放大器SEMSEM探针系统探针系统二次电子探测器二次电子探测器反射电子探测器反射电子探测器能谱分析系统能谱分析系统 SEM分析仪器和设备SEMSEM分分析析仪仪器器的的基基本组成本组成电子光源电子光源电子透镜电子透镜样品台样品台探测器探测器
4、总结SEM技术已经成为现代材料科学研究的重要工具。SEM的高分辨率和灵敏度,以及SEM成像系统和探针系统的不断更新,使得SEM在材料表征、生物医学、纳米技术、信息技术等领域得到了广泛应用。0202第2章 SEM样品制备技术 SEM样品制备技术概述SEM样品是指在扫描电子显微镜(SEM)下观察的样品,制备过程复杂。SEM样品制备技术包括样品表面处理技术、样品切割和磨制技术、样品的二次处理技术等。SEM样品的需求和选择实验目的需求样品种类选择SEM参数选择SEM样品制备技术的分类物理法分类化学法分类机械法分类SEM样品制备技术的发展现状前期处理技术现状成像技术现状样品制备设备现状样品表面处理技样品
5、表面处理技术基础术基础表面处理是表面处理是SEMSEM样品制备中非常重要的一步。旨在去除表面杂质、样品制备中非常重要的一步。旨在去除表面杂质、改变表面形貌、化学性质或机械性质。包括清洗、涂层、镀膜等改变表面形貌、化学性质或机械性质。包括清洗、涂层、镀膜等技术。技术。样品表面清洗技术机械式清洗技术物理式清洗技术化学式清洗技术样品表面涂层技术纳米涂层涂层技术原子层沉积涂层技术真空镀膜涂层技术样品切割技术机械式切割技术电子束溅射切割技术离子束切割切割技术样品磨制技术机械磨制磨制技术电子束磨制磨制技术离子束磨制磨制技术样品的二次处理技术膜沉积二次处理技术激光加工二次处理技术3D打印二次处理技术SEMS
6、EM成像技术成像技术的基本原理的基本原理SEMSEM成像技术是将样品表面的电子信号转化为图像的过程。成像技术是将样品表面的电子信号转化为图像的过程。SEMSEM成像技术的基本原理是扫描电子束与样品表面相互作用,产成像技术的基本原理是扫描电子束与样品表面相互作用,产生的信号被检测器收集并与扫描电子束的位置信息一起被发送到生的信号被检测器收集并与扫描电子束的位置信息一起被发送到显示器上。显示器上。SEM成像技术的常见问题及解决方法图像清晰度不高常见问题图像噪音大常见问题图像分辨率不够常见问题技巧技巧图像曝光时间不能太长图像曝光时间不能太长合理选择工作距离合理选择工作距离采用多角度扫描采用多角度扫描
7、图像处理和分析图像处理和分析技巧技巧研究样品表面的属性研究样品表面的属性了解病变细胞的形态改变了解病变细胞的形态改变探究纳米材料的形貌探究纳米材料的形貌技巧技巧SEMSEM成像的艺术与实用性成像的艺术与实用性开展开展SEMSEM样品制备和成像研究样品制备和成像研究SEM样品成像技巧技巧技巧样品表面必须光滑干净样品表面必须光滑干净选择合适的电子探测器选择合适的电子探测器恰当设置加速电压和电子束扫恰当设置加速电压和电子束扫描速度描速度调整聚焦和扫描线圈调整聚焦和扫描线圈 0303第3章 SEM分析方法和技术 SEM分析技术的分类原理和方法SEM成像分析技术基本原理SEM能谱分析技术SEM成像分析技
8、术的原理和方法SEM成像分析技术是一种利用电子束与样品相互作用的成像分析技术。不同于光学显微镜,SEM成像分析技术利用的是高能电子束而非光来照射样品,从而得到高分辨率的成像效果。SEM成像分析技术的方法通常包括样品制备、电子束的聚焦、扫描和信号的检测等步骤。对粒度、形貌、结构和缺陷等进行分析纳米级材料表征0103检测细胞、组织和大分子等样品的形态和结构生物和医学研究02快速、高效地对样品进行表征和分析材料和器件研究检检测测器器和和信信号号处处理理器器检测器用于检测样品发出的特检测器用于检测样品发出的特定辐射定辐射信号处理器处理信号并转化为信号处理器处理信号并转化为能谱图能谱图能谱图分析软件能谱
9、图分析软件用于对得到的能谱图进行分析用于对得到的能谱图进行分析识别元素和化合物的种类和含识别元素和化合物的种类和含量量高真空系统高真空系统保证样品和仪器处于稳定的真保证样品和仪器处于稳定的真空环境空环境防止电子束与气体分子碰撞产防止电子束与气体分子碰撞产生误差生误差SEM能谱分析仪器的结构和特点电子枪和样品台电子枪和样品台电子枪产生高能电子束电子枪产生高能电子束样品台支撑样品并控制位置样品台支撑样品并控制位置SEMSEM分析技术分析技术的新发展的新发展近年来,随着计算机和信息技术的发展,近年来,随着计算机和信息技术的发展,SEMSEM分析技术也在不断分析技术也在不断地创新和发展。例如,利用人工
10、智能和图像处理技术,可以对大地创新和发展。例如,利用人工智能和图像处理技术,可以对大量的量的SEMSEM图像数据进行高效分析和处理,从而加快研究进程。此图像数据进行高效分析和处理,从而加快研究进程。此外,还有一些新型外,还有一些新型SEMSEM分析技术出现,如低能分析技术出现,如低能SEMSEM和欧姆和欧姆SEMSEM等,可以应用于更加复杂和细微的样品分析。等,可以应用于更加复杂和细微的样品分析。SEM分析技术的局限SEM成像分析技术受到电子束的衍射和散射等因素的限制,分辨率有限分辨率有限样品制备和照射等都对SEM成像分析技术的分辨率和成像效果有一定的影响对样品要求高 0404第4章 SEM应
11、用领域 SEMSEM在在电电子子元元器器件件分析中的应用分析中的应用SEMSEM可以实现样品的显微结构可以实现样品的显微结构分析和成分分析分析和成分分析SEMSEM在电子元器件分析中的应在电子元器件分析中的应用有:芯片成分分析、用有:芯片成分分析、PCBPCB板板分析和纤维测量等分析和纤维测量等SEMSEM在在电电子子元元器器件件品质检测中的应用品质检测中的应用SEMSEM可以检测集成电路、器件可以检测集成电路、器件线路、封装、金属电极和焊接线路、封装、金属电极和焊接等部件,提高产品的可靠性和等部件,提高产品的可靠性和品质品质SEMSEM在电子元器件品质检测中在电子元器件品质检测中的主要应用有
12、:器件可靠性测的主要应用有:器件可靠性测试、焊接质量分析和成品检测试、焊接质量分析和成品检测等等 电子元器件制造领域电电子子元元器器件件制制造造中中SEMSEM的应用的应用SEMSEM可用于芯片的制造和检测可用于芯片的制造和检测过程中,提高生产效率和产品过程中,提高生产效率和产品质量质量SEMSEM在芯片制造中的主要应用在芯片制造中的主要应用有:生产线随机检查、关键步有:生产线随机检查、关键步骤监控和故障分析等骤监控和故障分析等SEMSEM在在材材料料表表征征中中的应用的应用SEMSEM可以观察材料的形貌、微可以观察材料的形貌、微观结构和成分分布等特征观结构和成分分布等特征SEMSEM在材料表
13、征中的应用有:在材料表征中的应用有:材料的形貌表征、微观结构分材料的形貌表征、微观结构分析和成分分布检测等析和成分分布检测等SEMSEM在在材材料料研研究究中中的新发展的新发展随着技术的发展,随着技术的发展,SEMSEM在材料在材料研究中的应用也在不断创新和研究中的应用也在不断创新和扩展扩展SEMSEM在材料研究中的新发展包在材料研究中的新发展包括:高分辨率观测、原位实验括:高分辨率观测、原位实验和多模态分析等和多模态分析等 材料研究领域材材料料研研究究中中SEMSEM的的应用应用SEMSEM可用于分析材料的显微结可用于分析材料的显微结构、成分和性能构、成分和性能SEMSEM在材料研究中的主要
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