表界面分析(XPS)优秀课件.ppt
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1、第六章第六章 表面分析技术表面分析技术 之光电子能谱仪之光电子能谱仪 XPSXPS1 1 表面分析简介表面分析简介2 2一、什么是表面及表面分析技术?表表面面:物物体体与与周周围围环环境境(气气体体、液液体体、固固体体或真空)的边界,第四态。或真空)的边界,第四态。固固体体表表面面:是是有有一一定定厚厚度度的的,有有时时指指表表面面的的第第一一原原子子层层,有有时时指指上上面面几几个个原原子子层层,有有时时厚度达到几个纳米的表面层。厚度达到几个纳米的表面层。表表面面分分析析技技术术:通通过过微微观观粒粒子子或或(电电、磁磁、力力等等)场场与与表表面面的的相相互互作作用用而而获获取取表表面面信信
2、息息的的技技术术。与与超超高高真真空空、电电子子离离子子光光学学、微微弱弱信信号号检检测测和和计计算算机机技术密不可分。技术密不可分。3 3二、表面分析包含内容二、表面分析包含内容表面形貌分析表面形貌分析:电子显微镜、离子显微镜、:电子显微镜、离子显微镜、STMSTM、AFMAFM表表面面组组分分分分析析:测测定定表表面面的的元元素素组组成成、化化学学态态及及在在表表面面层层的的横横向向与与纵向分布纵向分布表表面面结结构构分分析析:测测定定表表面面原原子子排排列列,包包括括衬衬底底表表面面原原子子及及其其上上吸吸附附单单层层原原子子的的相相对对位位置置,LEEDLEED、STMSTM、LEIS
3、SLEISS、ARPESARPES、XPDXPD、AP-FIMAP-FIM表表面面电电子子态态分分析析:测测定定表表面面原原子子能能级级的的性性质质、表表面面态态密密度度、表表面面电电荷密度分布和能量分布。荷密度分布和能量分布。UPSUPS、STMSTM、HREELSHREELS表表面面原原子子态态分分析析:测测定定表表面面原原子子振振动动,表表面面原原子子化化学学键键的的性性质质与与吸吸附附位位置置、吸吸附附原原子子态态,吸吸附附原原子子成成键键方方向向和和吸吸附附质质成成键键的的基基底底原原子子的情况。高分辨电子能量损失谱、热脱附和电子、光子诱导脱附的情况。高分辨电子能量损失谱、热脱附和电
4、子、光子诱导脱附4 4三、各种表面分析技术特征比较三、各种表面分析技术特征比较5 5四、什么是光电子能谱仪四、什么是光电子能谱仪XPSXPS?光光电电子子能能谱谱仪仪:采采用用单单色色光光源源(如如X X射射线线、紫紫外外光光)或或电电子子束束照照射射样样品品表表面面,使使样样品品中中的的原原子子或或分分子子受受到到激激发发而而发发射射电电子子,通通过过测测量量这这些些电电子子的的能能量量分分布布,获获得得物物质质的的结结构构组组成成等等有有关关信信息息的的一一类类分分析析方方法法。别别名名ESCAESCA,全全称称为为Electron Electron Spectroscopy Spectr
5、oscopy for for Chemical AnalysisChemical Analysis分分类类:X X射射线线光光电电子子能能谱谱(XPSXPS)、紫紫外外光光电电子子能能谱谱(UPSUPS)、X X光俄歇电子能谱(光俄歇电子能谱(XAESXAES)。)。特点:特点:不仅能测定表面的组成元素,而且能确定各元素的化学状态不仅能测定表面的组成元素,而且能确定各元素的化学状态6 6五、五、XPSXPS优点:优点:干扰小,定性分析标示性强;干扰小,定性分析标示性强;直接得到电子能级结构的信息;直接得到电子能级结构的信息;分分析析样样品品深深度度约约 2nm2nm,分分析析所所需需试试样样约
6、约1010-8-8g g,是是一一种种高高灵灵敏超痕量无损表面分析技术;敏超痕量无损表面分析技术;样品处理简单、适用性广、可获取丰富的化学信息等特点;样品处理简单、适用性广、可获取丰富的化学信息等特点;可以测定除可以测定除HH和和HeHe以外所有元素的定性、定量和化学状态。以外所有元素的定性、定量和化学状态。7 7X射线光电子谱射线光电子谱XPS8 8目录目录XPSXPS概述概述XPSXPS基本原理基本原理初态效应和化学位移初态效应和化学位移终态效应及其伴峰终态效应及其伴峰XPSXPS价带谱价带谱XPSXPS构造构造XPSXPS应用应用9 9一、一、XPSXPS概述概述XPSXPS是是用用一一
7、束束特特征征波波长长(能能量量h h)的的X X射射线线,激激发发材材料料中中有有关关原原子子轨轨道道的的电电子子,被被击击出出的的电电子子成成为为光光电电子子,光光电电子子的的动动能能(E Ek k)大大小小与与具具体体元元素素及及其其轨轨道道结结合合能能(E Eb b)存存在在对对应应关关系系,三三者者满满足足EinsteinEinstein光电发射定律:光电发射定律:Ek=h-EBXPSXPS的基本原理是光电效应。的基本原理是光电效应。1010对于导电固体,对于导电固体,E Ek k=h-=h-E EB B-Ws 对于非导电固体,对于非导电固体,E Ek k=h-=h-E EB B-Ws
8、+E+Ec cE EB B:结结合合能能,电电子子克克服服原原子子核核束束缚缚和和周周围围电电子子的的作作用用,到到达达费费米米能能级级所所需需要要的的能量。能量。WsWs:逸逸出出功功,固固体体样样品品中中电电子子由由费费米米能能级跃迁到自由电子能级所需要的能量。级跃迁到自由电子能级所需要的能量。费费米米(FermiFermi)能能级级:0K0K固固体体能能带带中中充充满电子的最高能级;满电子的最高能级;根根据据测测定定的的光光电电子子动动能能E Ek k,得得到到相相关关受受激激原原子子轨轨道道电电子子的的结结合合能能E Eb b,在在XPSXPS谱中有对应的特征峰,由此确立相应的元素种类
9、。谱中有对应的特征峰,由此确立相应的元素种类。-XPS -XPS测定表面化学组成的理论依据。测定表面化学组成的理论依据。1111另另一一方方面面,所所测测得得的的光光电电子子数数量量和和样样品品中中受受激激轨轨道道数数,即即原原子子的的数数量量有有关关,如如果果把把在在确确定定时时间间内内收收集集的的光光电电子子数数(电电子子数数/s)/s)对对光光电子动能作图,得到光电子谱。电子动能作图,得到光电子谱。金属金属AlAl表面表面XPSXPS谱谱(a)(a)全谱全谱(b)(b)窄能量范围谱窄能量范围谱1212XPSXPS光电子谱的主要信息内容:光电子谱的主要信息内容:表面化学组成定性分析,表面化
10、学组成定性分析,可指认所属元素及其电离轨道;可指认所属元素及其电离轨道;谱峰强度与样品中被电离的原子数量成正比,可进行谱峰强度与样品中被电离的原子数量成正比,可进行定量分析定量分析;从内能级谱线对应结合能的位移,直接确定确定相关元素的从内能级谱线对应结合能的位移,直接确定确定相关元素的化学状态化学状态;原子内能级电子电离,不可避免发生俄歇跃迁,出现原子内能级电子电离,不可避免发生俄歇跃迁,出现俄歇伴峰俄歇伴峰;谱谱线线特特征征与与原原子子内内电电子子结结构构有有关关。原原子子内内能能级级谱谱线线的的多多重重分分裂裂同同它它的的价价带带电电子子占占有有情情况况有有关关;费费米米能能级级附附近近电
11、电子子状状态态密密度度分分布布同同价价电电子子或或化化学学成成键键状状况况有有关关;光光电电子子出出射射时时会会与与价价带带中中自自由由电电子子相相互互作作用用,在在低低动动能能段段产产生生费费弹弹性性能能量量损损失失峰峰,构成构成XPSXPS更多信息;更多信息;XPSXPS峰形、峰宽与激发态寿命及振动展宽相关,可研究固体或分子中电子构型。峰形、峰宽与激发态寿命及振动展宽相关,可研究固体或分子中电子构型。1313二、二、XPSXPS基本原理基本原理从图可见,从图可见,XPSXPS图主结构包括:图主结构包括:lAugerAuger电子峰电子峰lS S轨轨道道电电子子峰峰为为单单峰峰,而而其其它轨
12、道如它轨道如p p、d d为双峰为双峰l双双峰峰分分裂裂的的间间距距对对于于不不同同轨轨道道为为何何不不同同,如如3d3d和和3p3p峰双线分隔间距不同峰双线分隔间距不同lX X光光电电子子峰峰,如如3s3s、3p3p、3d3d等等,谱谱带带强强度度高高于于4s4s、4p4p,而,而3d3d峰高于峰高于3s3s、3p3pl台阶式背景台阶式背景l伴峰,如伴峰,如3d3d伴峰伴峰?14141.X1.X射线与物质相互作用时产生的信息:射线与物质相互作用时产生的信息:1515光电离过程:光电离过程:光子能量转化为电子能量的过程光子能量转化为电子能量的过程l光电离过程一般为单光子,单电子过程;光电离过程
13、一般为单光子,单电子过程;l光电离过程是量子化的,光电子能量也是量子化的,与原子轨道有关;光电离过程是量子化的,光电子能量也是量子化的,与原子轨道有关;l只要光子能量足够,可以激发出所有轨道电子;只要光子能量足够,可以激发出所有轨道电子;l对气体是电离能,对固体还需要考虑功函的影响对气体是电离能,对固体还需要考虑功函的影响特征特征X射线射线俄歇电子俄歇电子光电离过程光电离过程电电子子弛弛豫豫1616光电离截面光电离截面(光电离几率光电离几率):一一定定能能量量的的光光子子在在与与原原子子作作用用时时,从从某某个个能能级级激激发发出出一一个个电电子子的几率,称为的几率,称为光电离几率。光电离几率
14、。与电子壳层平均半径、入射光子能量、原子序数有关;与电子壳层平均半径、入射光子能量、原子序数有关;入射光子能量一定,同一原子中入射光子能量一定,同一原子中半径越小的壳层半径越小的壳层,越大越大;电子的结合能与入射光子的电子的结合能与入射光子的能量越接近能量越接近,越大;越大;同一轨道,随着原子序数的增加,同一轨道,随着原子序数的增加,增加增加由于价电子对由于价电子对X X射线的光电截面小于内层电子,所以射线的光电截面小于内层电子,所以XPSXPS主要研究内层电子的结合能。主要研究内层电子的结合能。17171818XPSXPS信息深度信息深度 样品的探测深度通常用电子的逃逸深度度量。样品的探测深
15、度通常用电子的逃逸深度度量。电电子子逃逃逸逸深深度度(E Ek k):逸逸出出电电子子非非弹弹性性散散射射的的平均自由程;平均自由程;:金属:金属0.53nm0.53nm;氧化物;氧化物24nm 24nm;有机和高分子有机和高分子410nm 410nm;通常:取样深度通常:取样深度 d d=3=3 ;光电过程中,双电子跃迁过程属于禁阻跃迁,其几率远小于单电子光电过程中,双电子跃迁过程属于禁阻跃迁,其几率远小于单电子跃迁几率。跃迁几率。XPSXPS是单电子跃迁过程,因此可准确测量其结合能。是单电子跃迁过程,因此可准确测量其结合能。1919XPSXPS电子的结合能电子的结合能:结结合合能能是是指指
16、在在某某一一元元素素的的原原子子结结构构中中某某一一轨轨道道电电子子和和原原子子核核结结合合的的能能量量。结结合合能能与与元元素素种种类类以以及及所所处处的的原原子子轨轨道道有有关关,能能量量是是量量子子化化的的。结结合合能能反反映映了了原原子子结结构构中中轨轨道电子的信息。道电子的信息。对对于于气气态态分分子子,结结合合能能就就等等于于某某个个轨轨道道的的电电离离能能,而而对对于固态中的元素,结合能还需要进行仪器功函的修正。于固态中的元素,结合能还需要进行仪器功函的修正。2020结合能的理想解释结合能的理想解释1.光子和原子碰撞产生相互作用光子和原子碰撞产生相互作用2.原子轨道上的电子被激发
17、出来原子轨道上的电子被激发出来3.激激发发出出的的电电子子克克服服仪仪器器功功函函进进入真空,变成自由电子入真空,变成自由电子4.每每个个原原子子有有很很多多原原子子轨轨道道,每每个轨道上的结合能是不同的;个轨道上的结合能是不同的;5.结结合合能能只只与与能能级级轨轨道道有有关关,是是量子化的;量子化的;6.内内层层轨轨道道的的结结合合能能高高于于外外层层轨轨道的结合能;道的结合能;2121结合能变化规律:结合能变化规律:同一周期的元素,随着核电荷数增加,其电子结合能增加。同一周期的元素,随着核电荷数增加,其电子结合能增加。通常通常XPSXPS测试电子结合能的能级与原子序数的关系如下表:测试电
18、子结合能的能级与原子序数的关系如下表:2222结合能的测定:结合能的测定:n在在光光电电离离过过程程中中,固固体体物物质质的的结结合合能能可可以以用用下下面面的的方方程表示:程表示:Ek=Ek=h h -Eb-Eb-s snEk Ek 出射的光电子的动能出射的光电子的动能,eV;,eV;nh h X X射线源光子的能量射线源光子的能量,eV,eV;nEb Eb 特定原子轨道上的结合能特定原子轨道上的结合能,eV,eV;n s s 谱仪的功函谱仪的功函,eV,eV。n谱谱仪仪的的功功函函主主要要由由谱谱仪仪材材料料和和状状态态决决定定,对对同同一一台台谱谱仪基本是一个常数,与样品无关,其平均值为
19、仪基本是一个常数,与样品无关,其平均值为3 34eV4eV。23232424电电子子弛弛豫豫:内内层层电电子子被被电电离离后后,造造成成原原来来体体系系的的平平衡衡势势场场的的破破坏坏,使使形形成成的的离离子子处处于于激激发发态态,其其余余轨轨道道电电子子结结构构将将重重新新调调整。这种电子结构的重新调整,称为电子弛豫整。这种电子结构的重新调整,称为电子弛豫Question 1?26262.2.构成构成XPSXPS谱的基本物理因素谱的基本物理因素(1 1)XPSXPS电子峰的命名及非电子峰的命名及非S S态双峰结构态双峰结构X X光光电电子子按按发发射射的的轨轨道道能能谱谱项项名名称称而而命命
20、名名,即即用用主主量量子子数数n、角量子数、角量子数l和总角动量和总角动量j来描述:来描述:例如例如:3d:3d5/2 5/2 l第一个数字第一个数字3代表主量子数代表主量子数(n)l小写字母代表角量子数小写字母代表角量子数l=2;l右下角的分数代表内量子数右下角的分数代表内量子数j=5/227272828从表可知,当角量子数,从表可知,当角量子数,l=0时,时,j=l1/2 只有一个数值只有一个数值l0时,时,j=有两个数值有两个数值表明自旋表明自旋-轨道耦合的结果是轨道耦合的结果是S S态光电子为单峰态光电子为单峰非非S S态光电子为双峰态光电子为双峰也就是为什么也就是为什么XPSXPS谱
21、中,谱中,p p、dd电子出现双峰的原因电子出现双峰的原因Question 2?2929(2 2)自自旋旋-轨轨道道分分裂裂谱谱线线的的宽宽度度:取取决决于于电电子子自自旋旋和和轨轨道道角角动动量量之之间间的的耦耦合合强强度度,这这种种耦耦合合作作用用同同1/r31/r3成成正正比比。对对同同一一元元素素,角角量量子子数数l l相相同同,主主量量子子数数n n越越大大,分分裂裂宽宽度度越越小小(4p3p2p)(4p3pnpndnf)(nsnpndnf);Question 3?3030(3 3)光光电电子子强强度度(谱谱带带强强度度):光光电电离离过过程程中中产产生生的的光光电电子子强强度度与整
22、个过程发生的光电离几率有关。与整个过程发生的光电离几率有关。越越大大说说明明该该能能级级上上的的电电子子越越容容易易被被光光激激发发,与与同同原原子子其其它它壳壳层层上上的的电电子子相比,它的光电子峰的强度越大。相比,它的光电子峰的强度越大。l固体表面固体表面XPSXPS谱带强度(峰面积或峰高)是进行定量分析的依据。谱带强度(峰面积或峰高)是进行定量分析的依据。l对于同一种元素,谱带强度反映了元素的浓度或含量。对于同一种元素,谱带强度反映了元素的浓度或含量。l对于不同种元素,谱带强度不能直接给出元素直接量的关系。对于不同种元素,谱带强度不能直接给出元素直接量的关系。l电子能谱中,谱带强度与组成
23、元素的电子能谱中,谱带强度与组成元素的n n和和l l有关,对于同一种元素,有关,对于同一种元素,a)a)主量子数小的壳层的峰比主量子数大的峰强,主量子数小的壳层的峰比主量子数大的峰强,1s2s1s2s谱带强度谱带强度;b)b)同一壳层,角量子数大者峰强;同一壳层,角量子数大者峰强;c)c)n n和和l l都相同者,都相同者,j j大者峰强大者峰强Question 4?3131(4 4)固固体体表表面面谱谱线线展展宽宽:由由于于激激发发态态寿寿命命的的不不确确定定性性引引起起谱谱线线展展宽宽,寿寿命命展展宽宽约约为为0.055eV0.055eV。来来自自高高结结合合能能的的内内能能级级光光电电
24、发发射射的的寿寿命命展展宽宽大大于于低低结结合合能能的的价价带带光光发射。发射。(5 5)非非弹弹性性散散射射引引起起的的台台阶阶式式背背景景:X X光光电电子子在在穿穿出出样样品品途途中中,可可能能发发生生非非弹弹性性碰碰撞撞而而损损失失能能量量,已已损损失失能能量量的的二二次次电电子子可可继继续续进进行行非非弹弹性性碰碰撞撞而而再再次次损损失失能能量量,形形成成三三次次、四四次次电电子子和和N N次次电电子子。如如此此下下去去,便便在在强强峰的低能端形成明显的台阶式背景。峰的低能端形成明显的台阶式背景。Question 5?3232XPSXPS谱图的背底随结合能值的变化关系谱图的背底随结合
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